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近日，蔡司中國(guó)新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列新品線上發(fā)布會(huì)成功舉行。為了滿足新能源、新材料、電子半導(dǎo)體和集成電路、深海、航天、生命科學(xué)和考古學(xué)等熱門領(lǐng)域高分辨率成像和綜合分析的需要，蔡司新推出的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma 360和Sigma 560繼承了Gemini電子透鏡管的優(yōu)良性能，將成為材料研究、生命科學(xué)和工業(yè)檢驗(yàn)領(lǐng)域的“全方位”。蔡司致力于與用戶攜手共進(jìn)，推動(dòng)科學(xué)發(fā)展和行業(yè)進(jìn)步。 新Sigma系列的亮點(diǎn): 高分辨率 雙子座的電子光學(xué)技術(shù)再次升級(jí)，分辨率進(jìn)一步提高，低壓效果更佳，使您的高分辨率成像工作更加方便。 全面分析 可配置多種分析方法，以獲得樣品的全面信息 ✓新的NanoVP Lite保證了低真空EDS分析的準(zhǔn)確性 ✓電子通道對(duì)比成像(ECCI)分析樣品內(nèi)部缺陷 ✓采用EBSD無(wú)泄漏物鏡實(shí)現(xiàn)高精度晶體取向分析 ✓拉曼-SEM組合系統(tǒng)，輕松實(shí)現(xiàn)高精度原位拉曼分析 多個(gè)擴(kuò)展 超強(qiáng)的擴(kuò)展兼容性，為您拓展電鏡應(yīng)用新維度。它可以是您的全自動(dòng)原位實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，可以是您的冷凍傳輸分析系統(tǒng)，也可以是您的高精度電子束直寫(EBL)平臺(tái)，還可以是您的原位電化學(xué)分析工作站，等等。 強(qiáng)大的智能 智能軟件是必不可少的，它將帶你解鎖掃描電子顯微鏡的新玩法。SmartSEM Touch定制軟件為您帶來(lái)觸摸屏、流線型拍攝和自動(dòng)拼接體驗(yàn)、高效安全的操作。ZEN軟件使圖像處理等定量分析更加自動(dòng)化和智能化。Connect模塊可輕松實(shí)現(xiàn)光電關(guān)聯(lián)，一站式解決您的定位問(wèn)題。 廣泛應(yīng)用 廣泛的應(yīng)用適用性，無(wú)論是材料科學(xué)研究、工業(yè)測(cè)試，還是生命科學(xué)。無(wú)論是金屬、聚合物、陶瓷、礦石。無(wú)論是非導(dǎo)電的、波束敏感的還是磁性的。無(wú)論是半導(dǎo)體材料、鋰電池材料，還是生物樣品，它無(wú)所不包，樣樣精通。 , t+ x2 R' z9 P& ^3 u7 t& c
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