深入理解DRAM（全文·萬字30+圖）

一口Linux

按：本文是深入理解DRAM1-4的合集，整合后略有改動，文章較長。
目錄1. DRAM現況與器件原理
2. DDR1-DDR5優(yōu)化策略
3. DDR5 新特性與常見模組
4. DRAM展望與CXL
[/ol]DRAM 現況與原理DRAM 現況

DDR（Double Data Rate）內存的總帶寬計算公式可以簡化為：
總帶寬=數據傳輸速率 × 位寬總帶寬 × CPU內存控制器通道數。
其中，“數據傳輸速率”是指每個時鐘周期內單個引腳的數據傳輸速度，而“位寬”則代表了連接到內存控制器的引腳數量。
在DDR內存中，位寬通常指的是內存模塊上可用的數據線的數量，以比特為單位。例如，常見的DDR3和DDR4內存條的位寬有64位、128位等。
然而，隨著技術的進步，DDR內存標準經歷了多次迭代，從DDR到DDR2、DDR3、DDR4，再到現在的DDR5，數據傳輸速率有了顯著提升。
DDR5相較于前代DDR4，不僅提高了數據傳輸速率，還增加了單個內存模塊上的通道數，從而提高總帶寬。
盡管如此，引腳數量受到物理限制和成本控制的影響，并不是無限增加的。因此，提高內存帶寬的主要途徑是提高數據傳輸速率，以及優(yōu)化內存架構，比如DDR5引入的雙通道設計，可以在不增加引腳數量的情況下提高總帶寬。

圖中的兩個圖表分別展示了數據傳輸速率的增長和DRAM芯片容量的增長情況。
數據傳輸速率主要取決于以下幾個因素：
1. 技術進步：隨著工藝技術的改進，能夠實現更快的數據傳輸速率。例如，更先進的制造工藝允許晶體管之間的距離變得更小，這有助于提高信號傳輸的速度。
2. 內存標準：新的內存標準通常會帶來更高的數據傳輸速率。例如，從SDR到DDR5，每次新標準的推出都會顯著提高數據傳輸速率。
3. 設計優(yōu)化：內存控制器和其他相關硬件的設計也會影響數據傳輸速率。例如，增加并行處理能力或者改善信號完整性都可以提高數據傳輸速率。
[/ol]DRAM芯片容量的增長主要受以下因素影響：
1. 制造工藝：隨著制造工藝的進步，能夠在相同面積的晶圓上集成更多的存儲單元，從而提高單個DRAM芯片的容量。
2. 存儲單元設計：改進存儲單元的設計也可以提高密度，例如采用更小的電容或者更高效的電路布局。
3. 多層堆疊：現代DRAM芯片可以通過將多個存儲層堆疊在一起來增加容量，這種方法稱為高密度堆疊技術。
[/ol]然而，正如圖像所示，雖然數據傳輸速率一直在穩(wěn)步增長，但是DRAM芯片容量的增長速度已經放緩。這是因為隨著技術的發(fā)展，提高芯片容量變得越來越困難，尤其是在達到一定水平后，每一代產品的容量提升所需的時間明顯延長。
DRAM 器件原理

DRAM的基本單元由一個電容器和一個晶體管組成，用于存儲一個二進制位（0或1）。以下是DRAM單元操作的簡要說明：
1. 數據寫入:
? 當要向DRAM單元寫入數據時，首先激活（ACTIVATE）該單元，使能晶體管，允許對電容器進行充電或放電。
? 根據要寫入的數據位（0或1），電容器會被充至不同的電壓水平。如果要寫入0，則電容器保持接地；如果要寫入1，則電容器被充電至電源電壓Vcc。
2. 數據讀取:
? 要讀取DRAM單元的內容，首先激活（ACTIVATE）該單元，然后使用感測放大器（Sense amplifier）檢測電容器的電壓狀態(tài)。
? 感測放大器是一個高度敏感的放大器，它可以從電容器中提取微弱的電壓信號，并將其轉換成邏輯0或1。
? 然而，在讀取過程中，由于漏電流等原因，電容器的電壓可能會發(fā)生輕微變化，導致其內容被破壞。
3. 預充電（數據重寫）:
? 為了避免數據丟失，讀取之后必須重新寫回（PRECHARGE）電容器的內容。
? 在讀取操作完成后，關閉晶體管，斷開電容器與位線的連接。
? 使用預充電操作將位線電壓設置為中間值（即，介于0和Vcc之間的一個電壓），并將電容器的電壓恢復為其原始狀態(tài)。
? 如果原始數據位是0，則電容器保持接地；如果是1，則電容器被充電至Vcc。
? 最后，再次激活（ACTIVATE）單元，使能晶體管，將位線電壓重新加載到電容器中。
[/ol]這個過程確保了DRAM單元中的數據始終保持最新且可訪問。請注意，DRAM需要定期刷新，因為電容器會逐漸泄漏電荷，如果不進行刷新，數據最終會丟失。這就是為什么DRAM被稱為“動態(tài)”的原因——它需要不斷更新以保持數據的有效性。

JEDEC（Joint Electron Device Engineering Council）是一家全球性的行業(yè)組織，負責制定電子設備的標準，特別是在半導體領域。在DRAM（Dynamic Random Access Memory）領域，JEDEC扮演著至關重要的角色，因為它定義了DRAM器件的外部規(guī)范和接口標準。這些標準包括但不限于封裝尺寸、引腳分配、電氣特性、時序要求等等。具體來說，JEDEC在DRAM領域的主要作用如下：
1. 標準化: JEDEC制定了各種類型的DRAM（如SDRAM, DDR SDRAM, GDDR, LPDDR等）的技術規(guī)格，使得不同制造商生產的內存產品具有互換性和兼容性。這意味著任何符合JEDEC標準的DRAM芯片都可以在任何支持相應標準的主板或其他設備上使用，無需擔心兼容性問題。
2. 促進創(chuàng)新: JEDEC的標準鼓勵競爭和創(chuàng)新，因為它們提供了一種公平的競爭環(huán)境，所有公司都遵循相同的規(guī)則。這促進了技術的進步，因為制造商們專注于如何在滿足標準的同時提高性能、降低功耗和降低成本。
3. 市場協調: JEDEC的標準幫助協調市場需求和技術發(fā)展，確保整個行業(yè)的同步發(fā)展。當新的DRAM技術出現時，JEDEC會發(fā)布相應的標準，以便制造商和消費者了解新技術的特點和優(yōu)勢。
4. 質量保證: JEDEC的標準確保了產品質量的一致性，這對于終端用戶和系統集成商來說非常重要，因為他們知道購買的產品符合一定的質量和性能標準。
[/ol]在圖片中提到，JEDEC定義了DRAM看起來是什么樣的，也就是它的外觀和接口，但沒有規(guī)定內部的具體實現方式。這就給供應商留下了空間去開發(fā)自己的技術和工藝來滿足這些標準，這也是DRAM技術持續(xù)發(fā)展的驅動力之一。供應商可以根據自身的技術實力和創(chuàng)新能力，提供超越JEDEC標準的超集產品，以獲得競爭優(yōu)勢。

這張圖表顯示的是隨著DRAM密度增加，刷新（refresh）帶來的帶寬懲罰百分比的變化情況。從圖表中可以看出，隨著DRAM容量的增長，刷新操作對總帶寬的影響越來越大。在早期的小容量DRAM中，我們可以忽略刷新操作，因為它幾乎不會影響系統的整體性能。然而，隨著DRAM密度的增加，刷新已經變成了一個嚴重的限制因素，占據了可用帶寬的相當一部分比例。
在高密度DRAM中，例如32Gb，刷新操作可能消耗高達21%的可用帶寬，這對系統性能產生了顯著的影響。此外，當溫度升高時（85-95攝氏度），為了維持穩(wěn)定性，刷新頻率必須加倍，這意味著額外的11%-21%的帶寬損失，這是一個非常大的性能下降。
圖表右側還有一條時間軸，表示隨著時間的推移，電壓也會有所下降，這可能是由于老化或者高溫導致的。在標準溫度下，電壓下降（Droop at standard temp）相對于參考電壓（Reference voltage）有一定的幅度，而在高溫環(huán)境下，電壓下降更嚴重（Droop at high temp）。
SOC上的散熱設計是個非常重要的問題。

展示了一個DRAM存儲器的基本架構，并解釋了如何通過創(chuàng)建多個bank來平衡DRAM陣列布局和性能。
每個bank都有一個行緩沖區(qū)，可以作為數組的緩存。要訪問特定的記憶位置，需要指定Bank、Row和Column三個參數。同時，DRAM維護了一個片上Refresh Counter，用于自動恢復位單元電壓水平的過程。

多年來，DRAM的核心架構設計并沒有發(fā)生顯著變化，基于Core驅動器來調度（寫入、讀取、刷新）器件上上電壓位；快速迭代的是鏈接Host和DRAM器件的I/O驅動器，用時髦的術語來說，軟件定義DRAM使得傳統器件的訪存效率明顯改善。
在DRAM存儲器快速發(fā)展的25年里，有哪些過程優(yōu)化和改進呢？
DRAM優(yōu)化策略：DDR1-DDR4策略一：并行預取(Prefetch)

預取并行度是指一次數據傳輸過程中，內存控制器可以處理多少組數據。這個數字越大，表示內存系統可以一次性處理的數據量越多，從而提高數據吞吐量。
例如，DDR5的16n預取并行度（內存控制器雙通道，8n/通道）意味著它可以一次處理16組數據，而DDR1只能處理一組數據。這種增加預取并行度的方法使得內存系統能夠在保持核心速度不變的情況下，通過ping-ponging方式提高I/O速率，從而提高整體系統性能。

緩存行（Cache Line）大小驅動著整個行業(yè)的發(fā)展。具體來說：
? 64字節(jié)的緩存行是標準：這是指當前計算機體系結構中的緩存行大小通常是64字節(jié)。
? 這迫使內存I/O設計遵循規(guī)則：這些規(guī)則要求在請求時提供64字節(jié)的數據塊。
? DRAM I/O寬度為x4和x8是最常見的：這是指DRAM接口的寬度通常為4倍或8倍的數據寬度。
? 一個“rank”指的是同時被訪問的一組DRAM芯片：它們一起工作以向主機提供一個寬字。
? 這推動了預取深度背后的數學原理：預取深度是指一次從內存中讀入多少數據到緩存中的策略。
? 設計師們平衡DRAM I/O寬度和每個DRAM的容量：以此來構建內存模組。


不同數據寬度對應著不同Rank（即內存條上的單個顆粒）大小，展開來看，
? 64 Byte的緩存行，對應8 bit I/O通道，需要傳輸64次（1Byte = 8 bit），常見于早期服務器內存條（DDR1）；
? 4并行的8位DRAM I/O，只需要16次傳輸（相對加速了4倍�。�；
? 同樣的道理，8并行的4位DRAM I/O，也需要16次傳輸；
? DDR5服務器模塊有兩個40位子通道（明顯提升�。�，每個子通道都能在16次傳輸內提供一個緩存線，其中包含32位數據和8位ECC（錯誤校驗碼，提高Cache命中率）
Prefetch 可以升級到x16或者更高，來優(yōu)化傳輸帶寬嗎？
內存設計確實可以通過提高預�。╬refetch）并行度來優(yōu)化傳輸效率，但這并非沒有限制。在考慮是否可以設計出更高并行度如x16的設備時，我們需要考慮幾個關鍵因素：
1. 信號完整性：隨著數據線數量的增加，信號完整性和電氣特性變得更加復雜，這可能導致信號反射、串擾和時序問題，進而影響數據的可靠性和速度。
2. 功耗：更多的數據線意味著更高的功耗，這對于便攜式設備和服務器的熱管理是不利的。
3. 成本和封裝尺寸：更多的數據線意味著更大的封裝尺寸，這不僅增加了成本，也可能限制了在有限空間內的使用。
4. 芯片設計復雜性：更高的并行度要求更復雜的芯片設計，包括更多的I/O控制器和更復雜的內存控制器，這會增加設計難度和成本。
5. 效率和帶寬：雖然理論上x16設備可能提供更高的帶寬，但實際上，由于信號質量和功耗的限制，實際的帶寬增益可能不如預期顯著。例如，兩個x8設備可能比一個x16設備在實際應用中更加高效。
6. 標準化和兼容性：內存標準如DDR是由JEDEC這樣的組織制定的，它們平衡了上述所有因素來確定最佳的并行度。偏離這些標準可能會導致兼容性問題。
[/ol]因此，盡管理論上可以設計x16設備，但在實踐中，考慮到上述限制，業(yè)界通常會選擇更優(yōu)化的方案，如增加通道數（比如DDR5中的兩個獨立的40位子通道），使用更先進的工藝節(jié)點來降低功耗和提高速度，或是采用其他類型的內存技術（如HBM，高帶寬內存）來達到更高的帶寬和效率，而不只是單純增加單個設備的數據線數量。
策略二：通信系統優(yōu)化(DDR1--DDR4)

相對于并行預取策略的高效，如何優(yōu)化DRAM io 和系統 io 間的模型信號的相干性，是更底層的優(yōu)化策略。
圖中顯示了信號反射對可靠數據傳輸的挑戰(zhàn)，特別是在系統輸入輸出（I/O）方面。
圖中左側是一個模擬電路圖，顯示了信號反射的情況，右側則是實際測量得到的眼圖。眼圖是一種用來評估數字通信系統中信號質量的方法，它可以幫助我們理解信號在經過長距離傳輸后受到噪聲干擾的程度。圖中可以看到，由于反射導致的符號間干擾（Inter-symbol interference, ISI）顯著影響了可用的數據窗口（data eyes），這會降低系統的傳輸速率和可靠性。因此，解決這種問題成為了設計高速通信系統的一個重要技巧。
SDRAM--DDR1

SDRAM到DDR1的過渡過程，Transmeta Crusoe處理器作為第一個支持這兩種類型的CPU。
SDRAM（Synchronous Dynamic Random Access Memory）是一種同步動態(tài)隨機存取存儲器，它是DRAM（Dynamic Random Access Memory）的一種類型，但與傳統的異步DRAM相比，它能夠與系統時鐘同步運行，從而提供更高的數據傳輸率和更佳的性能。SDRAM的設計目的是為了適應計算機系統中日益增長的性能需求，尤其是在處理器速度快速提升的背景下，傳統的異步DRAM無法提供足夠的帶寬和響應速度。
圖中左邊是PC-133 SDRAM的架構，右邊是DDR1-400的架構。中間有一個小插圖展示了一個Transmeta Crusoe CPU。在SDRAM中，數據、地址和時鐘信號都是分開的，而在DDR1中，數據和數據 strobe是結合在一起的，而且還有終結電壓（Termination Voltage）和寄生電容（CaC）。此外，DDR1還采用了線路末端終止（Line-end termination）技術來減少反射問題。
通過 數據 strobe、終結電壓（Termination Voltage）、寄生電容（CaC）和線路末端終止（Line-end termination）技術 來優(yōu)化SDRAM的信號質量。
DDR1--DDR2

Strobe Pair 是 DDR2 中的一種設計特性，用于減少不對稱性錯誤。它由兩個互補的信號 DQS 和 DQS# 組成，它們是差分信號，可以提高信號質量和穩(wěn)定性。這個設計有助于改善數據傳輸的準確性和效率，并且在數據和脈沖線上使用了片上終接（On-die termination） 來減少傳輸線的反射。此外，DDR2也繼續(xù)使用了T分支路由來進行寄生電容補償（CaC）。
圖中還包含了一個詳細的內部緩沖器示意圖，說明了如何通過開關（sw1、sw2、sw3）來控制終端電阻（Rival1、Rival2、Rival3），從而實現片上終接。
DDR2--DDR3

DDR3引入了命令敏感的ODT（Command-sensitive ODT），提高了信號質量，并且為數據和地址使用了不同的電壓參考（Separate voltage references for data versus addresses）。
圖中還包括一個內部電路圖，顯示了VREF_DQ和VREF_CA是如何連接到數據和地址/命令線上的。
DDR3--DDR4

DDR4引入了更精細的參考電壓調整（Shmooing the reference voltage allows tighter calibration），并且圖中包括了一個內部電路圖，顯示了VREF是如何連接到數據線上的。
DDR5DDR5 是當前DRAM行業(yè)成熟工藝制程的最新產品，與DDR4 相比：

DDR5引入了DIMM上的電壓調節(jié)（Back side: on-DIMM voltage regulation），以減少電源軌上的噪聲（Noise reduction improves data integrity），從而提高輸入靈敏度（Noise on the voltage rails results in reduction of input sensitivity）。圖中還包含了一個內部電路圖，顯示了PMIC如何連接到電壓軌上。

圖示DDR5命令真值表（Command Truth Table），它詳細說明了不同命令（Activate, Write, Read, Precharge）對應的引腳狀態(tài)（CS_n, CA pins等）。
表格分為四部分，“RAS”、“CAS”、“CAS”和“CAS”，分別對應ACTIVATE、READ、WRITE和PRECHARGE四個動作及其所需的信號組合。例如，激活（ACTIVATE）需要Chip ID、Bank Group、Bank Address和Row信息；讀取（READ）需要Chip ID、Bank Group、Bank Address和Column信息；寫入（WRITE）也需要同樣的信息；最后，預充電（PRECHARGE）只需要Chip ID、Bank Group和Bank Address信息。
表格對于理解DDR5內存的工作原理非常有幫助，因為它描述了控制器如何通過特定的引腳狀態(tài)向內存模塊發(fā)送各種命令。
內存控制器（Memory Controller）和命令真值表有什么關系呢？
內存控制器（Memory Controller）是負責管理與內存交互的硬件組件，它位于CPU或北橋芯片中，在現代系統中通常集成在CPU內部。內存控制器的任務包括但不限于接收來自CPU的數據讀寫請求，將這些請求轉換為適合內存模塊的操作命令，管理內存尋址，控制內存的刷新周期，以及處理數據的傳輸。
內存控制器與命令真值表之間的關系體現在以下幾個方面：
1. 命令生成：當CPU發(fā)出讀寫請求時，內存控制器根據請求的類型生成相應的內存命令。這些命令需要按照命令真值表的規(guī)定，設置正確的控制引腳狀態(tài)，以確保正確的命令被發(fā)送到內存模塊。
2. 時序控制：內存控制器還必須遵守命令真值表中規(guī)定的時序要求，例如，在發(fā)送讀或寫命令之前，可能需要先發(fā)送激活（Activate）命令打開正確的行，然后在適當的時間間隔后發(fā)送讀或寫命令。內存控制器需要確保這些命令按正確的順序和時間間隔發(fā)送。
3. 錯誤檢測與糾正：內存控制器還可能包含錯誤檢測和糾正機制，這在一定程度上依賴于命令真值表來確定哪些命令序列是合法的，哪些可能是錯誤的。
4. 刷新管理：命令真值表也會列出刷新（Refresh）命令的觸發(fā)條件，內存控制器需要定期執(zhí)行刷新操作，以維持動態(tài)RAM中的數據不丟失。
[/ol]簡而言之，內存控制器基于命令真值表來正確地生成和發(fā)送內存命令，以保證內存的正常讀寫操作和其他功能的正確執(zhí)行，可以把真值表理解成計算體系的指令集，而MC則是負責翻譯和執(zhí)行指令集的計算單元。
DDR5 新特性伴隨系統通信信號的底層優(yōu)化，最新一代DDR5在功能上通過軟硬結合定義出多種新特性，以下逐一介紹。
Error Check Scrub (ECS)

Error Check Scrub (ECS)，允許測試和清理Bank組中DRAM內容。通過列讀修改寫操作檢測和糾正內容，并自動遞增列地址，然后行地址，再然后Bank地址。此外，它還會維護每行的錯誤計數和錯誤最多的行的地址，以便主機系統可以決定何時替換行為異常的DRAM行。
Error Check Scrub (ECS)主要用于以下場景：
1. 故障排除和診斷：當系統遇到內存相關的問題時，ECS可以幫助定位問題的具體位置，比如哪一行DRAM出現了過多的錯誤。這對于故障排除和診斷非常重要，因為它能提供有關內存健康狀況的詳細信息。
2. 長期穩(wěn)定性監(jiān)控：在服務器和數據中心環(huán)境中，ECS可用于監(jiān)控內存的長期穩(wěn)定性。如果某一行DRAM頻繁出錯，那么系統可以根據ECS提供的信息決定是否需要更換該行，以避免潛在的數據損壞或系統崩潰。
3. 內存校驗：在某些安全關鍵的應用程序中，ECS可以作為額外的安全層，確保內存內容的準確性。例如，在金融交易或醫(yī)療設備中，任何內存錯誤都可能導致嚴重后果，因此這種自我檢查和修復功能至關重要。
4. 實驗研究：研究人員可能會使用ECS來分析內存錯誤模式，了解其原因，或者評估不同內存配置下的錯誤率。
5. 內存測試：在生產過程中，制造商可以使用ECS來測試新生產的內存模塊的質量，確保其符合規(guī)格。
6. 老化管理：隨著內存使用時間的增長，一些位可能會逐漸變得不穩(wěn)定。ECS有助于發(fā)現這些問題并在它們導致嚴重問題之前采取措施。
7. 故障預防：在高可用性系統中，ECS可以幫助預防因內存錯誤而導致的服務中斷，通過提前識別和替換有問題的內存行。
[/ol]Memory Built In Self Test (MBIST)

Memory Built-In Self Test (MBIST) 是一種內置自測技術，它允許DDR5設備在接收到主機指令時進行內部自檢。以下是MBIST的工作原理和實際應用場景：
工作原理：
1. 啟動測試：當主機命令DDR5設備運行MBIST時，設備開始執(zhí)行一系列預先編程的測試。
2. 測試過程：MBIST會生成并注入特定的測試模式到內存陣列，然后讀回結果并與預期的結果進行比較。如果有任何差異，則表示可能存在錯誤。
3. 報告結果：完成測試后，設備將結果存儲在一個稱為模式寄存器（Mode Register，MR）的位置，通常是MR22。主機可以通過查詢這個寄存器來獲取測試結果。
4. 決策制定：如果測試結果顯示存在未修復的錯誤，主機可以決定是否需要進一步的修復步驟，如Post Package Repair (PPR)。
[/ol]Internal Thermal Sensor

DDR5內存模塊具有一個內置的熱傳感器，該傳感器能夠感知溫度并將其反饋給主控。
當溫度超過一定閾值時，如溫度在85℃以下，保持單次刷新頻率，超過則2倍刷新頻率（Wide Range 功能支持更細粒度的溫度控制），內存模塊會向主控提示需要增加刷新速率以保持數據的穩(wěn)定性。雖然服務器內存模塊通常已經包含了兩個精度為0.5度的熱傳感器，但多一層保障總是好的。
DDR5 模組

DDR5內存模塊的不同類型對應不同市場，包括：
? SODIMM：Small Outline Dual In-Line Memory Module，用于筆記本電腦和電信領域；
? UDIMM：Unbuffered DIMM，用于臺式機；
? RDIMM：Registered DIMM，用于服務器和工作站。
DDR5內存模塊的共同特征，包括：
? SidebandBus系統管理接口；
? Serial Presence Detect (SPD) with SidebandBus Hub；
? Programmable Power Management IC (PMIC) for on-module voltage regulation。
這些特性使得DDR5內存模塊更加高效、可管理并且具備更好的電源管理能力。
SODIMM-小型雙列直插內存模塊

SODIMM的一般特性：
? JESD309通用規(guī)范
? 5V PMIC供電電壓
? 兩個32或36位子通道
? x8或x16 SDRAMs（ECC x8被忽略）
? 單一的數據/命令總線速度
? 支持一或兩行（使用DDP）
UDIMM

與SODIMM基本保持一致。
RDIMM-雙列直插內存模塊

應用于工作站和服務器的DIMM外觀與應用于臺式機的UDIMM 大致相同，主要差異點在：
1. 工作電壓從5V升級到12V；
2. 基于ECC機制，位寬較前兩者要高一點；
3. 接口寬度較SODIMM 和 UDIMM 的寬度下降，保留 x4 和 x8（為什么會下降？大概率還是服務器場景的功耗考慮）
4. 支持雙路尋址
[/ol]DRAM的未來與CXLDRAM 容量焦慮與現實

1. 長期關注于提高DIMM 帶寬，使得對DIMM物理結構上的優(yōu)化停滯不前，而應用場景（如AI、自動駕駛）對DRAM的容量需求一直在上漲；
2. 業(yè)界提出3DS的制造工藝，通過不斷堆疊DRAM層數來實現容量的線性增加；
3. 隨著DRAM 層數的增加，又將出現新問題：
? 堆疊器件的中間位置將成為高溫災區(qū)，因溫度造成的頻繁刷新，將嚴重影響DRAM的可用帶寬（每次刷新消耗近21%的理論帶寬）；
? 器件的量產率不可控，當前單層良產率能達到97%，看似不錯，可一旦按16層堆疊，僅有61%的良產率；
? 3DS的工藝和產能尚不成熟，無法滿足產業(yè)需求。
[/ol]考慮到以上因素，目前3DS的生產工藝，停留在2層堆疊，即DDP（Dual Die Package ），先進廠商提出4D-NAND概念[1]。
坐以待斃是下策

內存池化早在 ARM 多核領域就有過考慮，最早是科學計算場景需求，現在是AI/ML領域，從大科學儀器下沉到企業(yè)。
非一致性內存訪問（NUMA）一直是池化內存資源的常用方法，
HyperTransport和Quick Path互連等總線已經存在了幾十年，
NUMA架構創(chuàng)建了一個資源層次結構 ：
? 離CPU最近的內存訪問速度最快 ；
? 稍遠距離的內存，訪問速率下降；
? 訪問距離最遠的內存，速度相應最慢。
業(yè)界已經出現根據訪問延遲調整數據位置的智能軟件。
現實中NUMA似乎是多核場景（ARM）策略，在Intel主導的服務器市場，并沒有多少實際投入和實踐。

DRAM的”困境“
? 每個通道只能安裝一個DIMM（Dual In-line Memory Module，內存條）。限制內存擴展的能力，因為在多通道系統中，如果每個通道只能安裝一個DIMM，那么內存總量的增長就會受限。
? DRAM（動態(tài)隨機存取存儲器）在達到32Gb（十進制的32吉比特，相當于4GB）時會遇到瓶頸（此處應該是指單個顆粒的容量）。這可能意味著當前的技術限制使得內存容量難以進一步擴大。
? 人工智能（AI）的發(fā)展需要更大的內存容量。由于AI算法和模型的復雜性，它們往往需要大量的內存來運行，所以內存容量的限制可能會阻礙AI的應用發(fā)展。
CXL
? CXL允許幾乎無限的內存擴展。通過CXL連接的內存可以突破傳統內存插槽限制，實現更大規(guī)模內存擴展。
? 內存池化功能允許未使用的內存被重新分配。通過CXL連接的內存可以組成一個共享的內存池，讓系統能夠靈活地管理內存資源，將未充分利用的內存重新分配給需要更多內存的任務，提高資源利用率。
明日之星：CXL ？

左圖是對CXL技術實現的完整架構，核心是基于CXL協議的DRAM控制器（CXL Controller），通過CXL 交換機連接到Host 節(jié)點從而實現內存池化后的資源共享，DTL核心組件及工作原理，另文詳解。
值得關注的是，Bill 并未一股腦肯定CXL未來統治地位，而是追憶起傲騰往事，并直接表露DAX（Direct Access）是否因為Optane技術的消亡而停滯不前。
或許市場就是如此殘酷，Intel這次押寶CXL在邏輯芯片市場再創(chuàng)輝煌了。

隨著CXL作為擴展PCIe的統一接口，加入數據存儲大家庭，熱數據場景除了直接訪問（DAS）的DRAM和”不怎么爭氣“的NUMA[2] ，基于CXL擴展的DRAM內存池將作為最大活躍數據緩存池，從而為企業(yè)市場的AI/ML及自動駕駛的IT可行性奠定基礎。
圖中說明了三種CXL訪存方式：
1. CXL Memory 直接通過PCIe口連接到母版，此法效率一等，稱之為 DRAM CXL direct；
2. CXL Memory 通過一層 CXL交換機連接到PCIe 口，此法效率二等，稱之為 DRAM CXL 1 hop；
3. 諸如此類，經過2次CXL交換機連接的，效率三等，DRAM CXL 2 hops，但容量卻可以做到最大。
[/ol]

來暢想下CXL 實現后的內存訪問方式，CXL內存模塊可以有三種分配方式：
? 可以專屬于一個處理器；
? 可以分塊給不同的處理器使用；
? 指定Moudle可被多個處理器同時共享（有點VMware中VMFS的感覺）。
存在的問題是：當同一內存區(qū)域被多個處理器共享寫入時，緩存一致性的反向失效是如何工作的？
總結

? DRAM的設計源自于1990年代SDRAM技術
? DRAM的發(fā)展正在逐漸放緩
? UDDR5具有高度可配置性——擁有數百個模式寄存器
? DDR5提高了關于錯誤和修復的透明度
? DRAM和內存模塊協同設計
? DDR5模塊集成了側帶總線(SidebandBus)和電源管理集成電路(PMICs)
? DDR1至DDR5的大多數變化集中在提高信號完整性
? 刷新操作帶來嚴重的性能損失，而安全要求進一步加劇了這一問題
? CXL技術允許進行內存擴展
? CXL技術為高效能、低功耗內存打開了大門
引用鏈接[1] 4D-NAND概念: https://www.dramx.com/News/Memory/20240808-36833.html
[2] ”不怎么爭氣“的NUMA: https://frankdenneman.nl/2022/09/21/sub-numa-clustering/




---【本文完】---
PPT取自 Wolley 首席系統架構師 Bill Gervasi，在FMS-2023閃存峰會上的匯報材料。
歡迎關注我的公眾號“王知魚”，回復240815獲取文中匯報材料。

玖酒

很好，很有用