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成熟制程節(jié)點(diǎn)依然是半導(dǎo)體行業(yè)的中流砥柱

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發(fā)表于 2024-9-10 08:01:00 | 只看該作者 |只看大圖 回帖獎(jiǎng)勵(lì) |正序?yàn)g覽 |閱讀模式
引言在半導(dǎo)體技術(shù)快速發(fā)展的今天,很容易被最先進(jìn)的制程節(jié)點(diǎn)所吸引。然而,成熟的制程節(jié)點(diǎn)在行業(yè)中持續(xù)發(fā)揮著關(guān)鍵作用,為各種應(yīng)用和設(shè)備提供動(dòng)力。本文探討了傳統(tǒng)節(jié)點(diǎn)的重要性、經(jīng)濟(jì)影響以及在當(dāng)今技術(shù)格局中的持久相關(guān)性。
3 }0 |$ L! r# y: ?. S, `; D( {8 V8 `制程節(jié)點(diǎn)的演變半導(dǎo)體制造技術(shù)自微米時(shí)代以來(lái)取得了長(zhǎng)足進(jìn)步。隨著進(jìn)入納米級(jí)別,幾項(xiàng)重大變革塑造了行業(yè)發(fā)展:
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+ o: A5 }; S  v' B, P0 s* g圖1:硅加工技術(shù)的演變,顯示了關(guān)鍵里程碑,如向更大晶圓的過(guò)渡、高k金屬柵極的引入、計(jì)算光刻技術(shù)、多重曝光、極紫外光刻(EUV)和環(huán)繞柵極(GAA)晶體管的應(yīng)用[1]: p+ e4 s0 v% f6 z
1.在130納米和90納米節(jié)點(diǎn)之間,晶圓從200毫米轉(zhuǎn)變?yōu)?00毫米,提高了成本效率。2.大約在45納米節(jié)點(diǎn),計(jì)算光刻技術(shù)變得必不可少,以確保清晰的特征印刷。3.引入了高k介電質(zhì)和金屬柵極,防止柵極氧化層變得過(guò)薄。4.多重曝光技術(shù),如雙重和四重曝光,在NAND閃存的30納米和數(shù)字邏輯的20納米節(jié)點(diǎn)變得必不可少。5.鰭式場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FinFET)首次在22納米節(jié)點(diǎn)采用,并在14納米節(jié)點(diǎn)成為主流。6.極紫外光刻技術(shù)(EUV)從7納米節(jié)點(diǎn)開(kāi)始使用,并在5納米節(jié)點(diǎn)成為必需。
( i5 e8 v; t; t6 n節(jié)點(diǎn)轉(zhuǎn)換的經(jīng)濟(jì)學(xué)歷史上,每個(gè)新的制程節(jié)點(diǎn)都會(huì)帶來(lái)20-25%的每顆芯片制造成本降低。然而,這一趨勢(shì)在20納米節(jié)點(diǎn)左右開(kāi)始發(fā)生變化。Synopsys的首席產(chǎn)品經(jīng)理Andrew Appleby解釋說(shuō):“在鰭式場(chǎng)效應(yīng)晶體管時(shí)代,每一代技術(shù)進(jìn)步所需的特殊制程要求都增加了顯著的成本和復(fù)雜性!
" |) Y% R9 [& s+ a* m8 r3 ^$ R結(jié)果是出現(xiàn)了一個(gè)新的經(jīng)濟(jì)現(xiàn)實(shí),即先進(jìn)節(jié)點(diǎn)不再自動(dòng)轉(zhuǎn)化為成本節(jié)約。這種轉(zhuǎn)變?cè)谛袠I(yè)中造成了一種分化:
  • 高性能、高成本芯片:英特爾、三星和英偉達(dá)等公司繼續(xù)推動(dòng)節(jié)點(diǎn)技術(shù)的發(fā)展,因?yàn)楫a(chǎn)品可以獲得高價(jià)格。
  • 對(duì)成本敏感的應(yīng)用:許多公司和產(chǎn)品由于經(jīng)濟(jì)因素而停留在較舊的節(jié)點(diǎn)上。[/ol]
    , ?5 }, g; Y8 X8 [. r$ H& u/ _這種分化導(dǎo)致設(shè)計(jì)開(kāi)始集中在某些節(jié)點(diǎn)上,特別是28納米左右,這代表了平面技術(shù)過(guò)渡到更昂貴的鰭式場(chǎng)效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)之前的最后一代。4 H  O0 }" o; _; G8 n
    成熟節(jié)點(diǎn)的持久性先進(jìn)節(jié)點(diǎn)具有吸引力,但成熟的制程技術(shù)由于以下原因繼續(xù)蓬勃發(fā)展:
  • 成本效益:較舊的節(jié)點(diǎn)通常使用已完全折舊的設(shè)備,使芯片生產(chǎn)利潤(rùn)很高。
  • 足夠的性能:許多應(yīng)用不需要先進(jìn)節(jié)點(diǎn)的尖端性能。
  • 模擬和混合信號(hào)兼容性:這些類(lèi)型的線路在成熟節(jié)點(diǎn)上表現(xiàn)往往更好。
  • 汽車(chē)和物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用:許多這些設(shè)備由于成本考慮和電壓要求使用較舊的節(jié)點(diǎn)。[/ol]" J. M: ~* z2 }' u
    Tignis公司營(yíng)銷(xiāo)副總裁David Park指出:“除了英特爾或內(nèi)存制造商外,選擇任何集成器件制造商(IDM),許多仍在130納米及以上節(jié)點(diǎn)進(jìn)行制造。某些部件根本不需要在更小的節(jié)點(diǎn)上制造!
    / J- u0 F, e# M  y% f最佳選擇不同的應(yīng)用傾向于特定的節(jié)點(diǎn):
  • 電源管理集成電路(PMICs):通常使用180納米或130納米節(jié)點(diǎn),更先進(jìn)的設(shè)計(jì)正在向90納米、55納米和40納米移動(dòng)。
  • 傳感器:通常在180納米和150納米節(jié)點(diǎn)上找到,而集成微控制器的智能傳感器正在向65納米或40納米移動(dòng)。
  • 物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備:由于成本考慮,大多數(shù)仍停留在40納米和22納米節(jié)點(diǎn)。
  • 模擬和混合信號(hào)芯片:55納米被認(rèn)為是最佳選擇,純模擬設(shè)計(jì)停留在180納米和150納米。; W% o+ |" ?( k( P( o! [+ m$ a* p
    Chiplet的作用Chiplet技術(shù)的出現(xiàn)正在影響節(jié)點(diǎn)選擇。理論上,Chiplet允許公司僅將先進(jìn)節(jié)點(diǎn)用于真正需要的組件,而將其他部分保留在成熟節(jié)點(diǎn)上。然而,目前先進(jìn)封裝解決方案的高成本意味著Chiplet對(duì)許多應(yīng)用來(lái)說(shuō)還不具有成本效益。3 d( Y* b0 M! U( Z% M: D
    保持成熟節(jié)點(diǎn)的相關(guān)性晶圓廠正在積極努力延長(zhǎng)成熟節(jié)點(diǎn)的壽命。例如,聯(lián)華電子(UMC)將22/28納米節(jié)點(diǎn)作為主要節(jié)點(diǎn)。其他晶圓廠正在實(shí)施改進(jìn),以吸引新的設(shè)計(jì)到較舊的制程,例如:
  • 引入特定晶體管設(shè)備以提高性能或最小化漏電
  • 實(shí)施制程縮小以改善成本和工具利用率
  • 添加射頻功能或高壓能力,用于混合信號(hào)系統(tǒng)
  • 納入汽車(chē)級(jí)認(rèn)證
    1 z, G  f( s8 e5 T; |6 t2 {制程節(jié)點(diǎn)的未來(lái)隨著行業(yè)繼續(xù)發(fā)展,可能會(huì)看到一種"雪犁效應(yīng)",即設(shè)計(jì)積累在某些節(jié)點(diǎn)上,特別是28納米左右。12納米到2納米之間的節(jié)點(diǎn)可能會(huì)看到設(shè)計(jì)開(kāi)始減少,因?yàn)椴捎贸杀菊系K變得越來(lái)越顯著。" H/ s) X0 z& W5 U! g8 j7 Q9 ^
    然而,這并不意味著成熟節(jié)點(diǎn)將變得過(guò)時(shí)。正如Synopsys的Appleby指出:“處于尖銳轉(zhuǎn)折點(diǎn)的技術(shù),如平面節(jié)點(diǎn)的最后一代,保證了長(zhǎng)壽命,因?yàn)閷?duì)于許多不需要下一個(gè)節(jié)點(diǎn)的產(chǎn)品類(lèi)別,提供了最佳功能集!
    , d7 ^! p4 X0 ~0 }* ]結(jié)論半導(dǎo)體行業(yè)將繼續(xù)推動(dòng)先進(jìn)節(jié)點(diǎn)的可能性邊界,但成熟制程技術(shù)的重要性不容忽視。這些傳統(tǒng)節(jié)點(diǎn)提供了成本效益、性能和多功能性的關(guān)鍵平衡,使其對(duì)廣泛的應(yīng)用不可或缺。展望未來(lái),半導(dǎo)體格局可能將繼續(xù)以多樣化的制程節(jié)點(diǎn)生態(tài)系統(tǒng)為特征,每個(gè)節(jié)點(diǎn)在我們?nèi)找婊ヂ?lián)的世界中服務(wù)于特定的需求和應(yīng)用。' ^0 H/ u- h) O7 [
    參考來(lái)源B. Moyer, "Legacy Process Nodes Going Strong," Semiconductor Engineering, Jul. 23, 2024.6 Y' s0 u  o* d/ j1 Z
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