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引言
" i7 W$ w! K2 R1 e; n3 r- d. A# H在現(xiàn)代消費電子產(chǎn)品中,從智能手機到增強現(xiàn)實器件,對超薄相機的需求日益增長。傳統(tǒng)相機設(shè)計面臨一個根本限制:透鏡系統(tǒng)的厚度。通過創(chuàng)新使用超透鏡折疊光學(xué)系統(tǒng),研究人員開發(fā)出一種新型解決方案,在保持高質(zhì)量成像性能的同時,顯著減小相機尺寸[1]。
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" X. p: A- [ i相機微型化的挑戰(zhàn)) Q) ^, ?# v5 J
傳統(tǒng)相機依賴垂直堆疊的折射透鏡,這種結(jié)構(gòu)固有地導(dǎo)致體積增大,主要有兩個原因。首先,單個透鏡之間需要空隙來實現(xiàn)所需的有效焦距(EFL)并校正光學(xué)像差。其次,折射透鏡本身的物理體積會顯著增加系統(tǒng)的厚度。
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4 H: |% G+ m; Y6 p' s+ `" ]( g圖1:傳統(tǒng)相機透鏡系統(tǒng)(A)展示了折射透鏡的垂直堆疊,而創(chuàng)新的超透鏡折疊光學(xué)方法(B)演示了光路如何在玻璃基底內(nèi)折疊。6 N6 f. h1 q" N( D
( N+ `( b# m( p$ |9 S超透鏡解決方案6 e3 A" U& M% {. |
這項創(chuàng)新解決方案利用超透鏡——可以在亞波長尺度上操控光的二維納米結(jié)構(gòu)陣列。這些超透鏡水平排列在玻璃晶圓上,引導(dǎo)光線沿著基底內(nèi)的多重折疊路徑傳播。這種方法實現(xiàn)了僅0.7毫米厚的超薄透鏡系統(tǒng),使其厚度僅為有效焦距的一半。
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( h. M7 ]7 Q4 N- _" K: O圖2:超透鏡折疊透鏡系統(tǒng)的全面展示,包括:(A)光線追蹤優(yōu)化結(jié)果,(B)模擬PSF網(wǎng)格,(C)相位分布和傅里葉變換振幅,(D)單元結(jié)構(gòu)和透射系數(shù)庫,(E)制造樣品照片,(F)顯微鏡視圖,(G)納米結(jié)構(gòu)的掃描電子顯微鏡圖像。: i' \, {4 Z9 F
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性能和功能
" L/ I& O8 c3 e) f( E+ p, `超透鏡折疊透鏡系統(tǒng)展現(xiàn)出優(yōu)異的性能指標。在852納米工作波長下,系統(tǒng)提供10°視場角和4的光圈數(shù),實現(xiàn)接近衍射極限的成像質(zhì)量。研究人員對系統(tǒng)的聚焦能力在不同角度和偏振狀態(tài)下進行了廣泛測試。
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9 I3 k0 ~: r3 K圖3:聚焦性能分析顯示:(A)入射角度定義,(B)模擬和測量的PSF,(C-D)模擬和實驗中的MTF,(E)焦點位置,(F)測量的聚焦效率。
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實際應(yīng)用和成像結(jié)果$ M/ G* U. p. u
通過與傳統(tǒng)透鏡系統(tǒng)的對比測試,證實了該系統(tǒng)的實際成像能力。結(jié)果表明,超透鏡折疊透鏡系統(tǒng)在顯著減小厚度的同時,保持了相當(dāng)?shù)某上褓|(zhì)量。7 {- g( R) E1 e8 a
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* V5 E b, Q/ o+ Z圖4:傳統(tǒng)方案與超透鏡折疊透鏡系統(tǒng)的成像性能對比,展示了概念圖示和測試圖案的捕獲圖像。
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I& r7 B( v4 Y# B7 @1 W/ s8 J未來發(fā)展% [. |$ C$ F y) |
這項技術(shù)在器件厚度是關(guān)鍵因素的消費電子產(chǎn)品中具有廣泛應(yīng)用價值。目前的原型在特定波長下運行,持續(xù)的研究旨在通過先進材料和制造技術(shù),將功能擴展到可見光波長并提高效率。4 t6 L, L. E+ l4 F
5 p9 h1 s& u! o7 u" U超透鏡折疊透鏡系統(tǒng)在光學(xué)系統(tǒng)微型化方面取得重要突破。在顯著減小厚度的同時保持高質(zhì)量成像的能力,使其成為智能手機、增強現(xiàn)實器件等需要緊湊外形的下一代相機的理想解決方案。
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# W8 d$ d/ S. b8 |參考文獻) `5 X; e$ i$ B6 }
[1] Y. Kim et al., "Metasurface folded lens system for ultrathin cameras," Science Advances, vol. 10, no. eadr2319, pp. 1-8, Oct. 2024.8 e. B' z4 i6 W$ A2 B1 n. @8 G2 W$ l
2 `5 l6 y* q# x9 f3 LEND, P7 [1 m$ E2 m3 W3 R2 R# E3 }, N
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# y3 r1 W! \, Y3 ?; Z! {軟件申請我們歡迎化合物/硅基光電子芯片的研究人員和工程師申請體驗免費版PIC Studio軟件。無論是研究還是商業(yè)應(yīng)用,PIC Studio都可提升您的工作效能。3 l- _9 t, q* t+ c2 }* @& O5 s
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) ~3 o, n1 W$ _0 U, s深圳逍遙科技有限公司(Latitude Design Automation Inc.)是一家專注于半導(dǎo)體芯片設(shè)計自動化(EDA)的高科技軟件公司。我們自主開發(fā)特色工藝芯片設(shè)計和仿真軟件,提供成熟的設(shè)計解決方案如PIC Studio、MEMS Studio和Meta Studio,分別針對光電芯片、微機電系統(tǒng)、超透鏡的設(shè)計與仿真。我們提供特色工藝的半導(dǎo)體芯片集成電路版圖、IP和PDK工程服務(wù),廣泛服務(wù)于光通訊、光計算、光量子通信和微納光子器件領(lǐng)域的頭部客戶。逍遙科技與國內(nèi)外晶圓代工廠及硅光/MEMS中試線合作,推動特色工藝半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈發(fā)展,致力于為客戶提供前沿技術(shù)與服務(wù)。
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