光子集成相控陣測(cè)試

正文摘要:

引言 + F% P8 c# Y2 W, P0 k$ w- O光子集成相控陣是光學(xué)系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)高級(jí)光束控制和成形能力的先進(jìn)設(shè)備。這些陣列在電信、激光雷達(dá)和光學(xué)傳感等多個(gè)領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。為確保最佳性能，全面測(cè)試這些設(shè)備非常重要。本文 ...