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測溫升的目的是為驗證電子產(chǎn)品的使用壽命、穩(wěn)定性等特性,通常會測試其重要元件(IC芯片等)的溫升,將被測設備置于高于其額定工作溫度(T=25℃)的某一特定溫度(如恒溫40℃)下運行,穩(wěn)定后記錄其元件高于環(huán)境溫度的溫升,以此評估此產(chǎn)品的設計是否合理。
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1 g" n: q( y: n4 V溫升的測試方法:目前溫升測試儀器主要分兩類,非接觸式(紅外熱像儀)和接觸式(熱電偶),目前大部分都是使用后者。# D0 p% c3 W* @! i7 a
非接觸式(紅外熱像儀)也可分為兩種,點溫儀(單點式)和熱成像儀,兩者工作原理相同:通過檢測紅外輻射,然后將其轉(zhuǎn)化為溫度讀數(shù)。點溫儀是只有一個像素點的紅外熱像儀,只能測試單個點的溫度,測試人員會錯失很多關鍵信息,局限性大。熱像儀不僅能測試成千上萬個點的溫度,且能將溫度讀數(shù)轉(zhuǎn)化為熱圖像,生成的熱圖像可全面反映待檢設備的整體狀況,測試人員可發(fā)現(xiàn)不易發(fā)現(xiàn)的熱點。+ t8 D9 Z7 d3 S" g8 W% F; w
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接觸式(熱電偶、熱電阻)測試儀在整機行業(yè)內(nèi)運用比較廣泛。
6 t+ [! f4 k. N9 W; ~熱電偶作為測量溫度的傳感器,通常和顯示儀表、記錄儀表和電子調(diào)節(jié)器配套使用,它可以直接測量各種生產(chǎn)過程中0~1800℃范圍的液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面的溫度。熱電阻的測溫原理是基于導體或半導體的電阻值隨著溫度的變化而變化的特性,其優(yōu)點也很多,也可以遠傳電信號,靈敏度高,穩(wěn)定性強,互換性以及準確性都比較好,但是需要電源激勵,不能夠瞬時測量溫度的變化。. E, d! S) q: z; T4 w Q
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