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作者：一博科技
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/ v+ ~9 z+ d5 F“喂，聽得到嗎？”3 y: S. z9 m$ M$ F7 t4 x
小陳的思緒從胡思亂想中被拉了回來。
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“嗯嗯，會的�！�
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“那你幫我看一下，我這里有個用測試夾具測試的項目出了問題�！�
: T, I$ n2 W# ]3 U6 @& i1 |小陳看了一下相關(guān)的測試報告，大概是一個這樣的項目：- A0 l! ^0 J0 t$ U/ r# v! ^9 }
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中間綠色的板子為需要測試的DUT，只是很簡單幾段3-4inch的延時線外加上兩個連接器而已。這樣子封裝的連接器性能通常也不錯，板子比較薄，全是表底層走線，過孔做的再差也不應(yīng)該有太大影響，板上也沒有stub，按理來說，DUT的損耗應(yīng)該挺線性的，不存在太多阻抗不連續(xù)點，在小陳的想象中，應(yīng)該是一個這樣子的測試結(jié)果：
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可是接著往下看測試報告，客戶那邊的測試結(jié)果卻嚇了我一大跳：
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WTF？5GHz處損耗達到21dB？！換算成走線的話這差不多得是30inch的FR4��！: }; V+ r6 B) t8 P) @( R6 j1 r
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小陳趕緊往上翻看了一下測試結(jié)構(gòu)，不對啊，測試夾具只有巴掌大，卻做出了半米長的效果，這是什么魔法？$ l9 Z6 P; k1 ^% \4 r
6 O# Q7 T- ^6 ]: B轉(zhuǎn)念一想，小陳釋然了，在仿真軟件中搭出了推測的拓撲，果不其然：
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原來，該夾具使用的是焊接式SMA，并且焊接時將SMA頭的針腳全部沒入了PCB中，如果走線與SMA頭同一面的話，整個SMA頭的信號針將成為一個stub，加上底部的錫球，這個stub將超過4mm。并且要保證能將SMA頭插進去并且焊上，這里的金屬化孔會做的比較大，導(dǎo)致這里阻抗較低，stub將會吸走更多的能量，造成更大的反射。' \8 ^) a! x, {# S/ P
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問題找了出來，客戶也放心了。看來測試夾具不僅僅是簡單的把被測物延伸出來連上儀器。你還需要根據(jù)被測物的結(jié)構(gòu)考慮可測試性；需要去減少夾具本身對測試結(jié)果的影響；需要根據(jù)信號協(xié)議考慮是否要去除夾具本身的影響；需要考慮什么樣的測試方案是成本最低，效率最高的；需要考慮如何能覆蓋所有的測試需求••••這些東西跟層疊一樣，是需要進行取舍的。( W# c3 E. P6 @
5 Q* \4 ^/ e6 h3 r. v8 s/ i那我們會不會做測試夾具呢？應(yīng)該是會的吧。 |
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