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Hot Chips 2024 | 人工智能在芯片設(shè)計中的應用

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發(fā)表于 2024-9-19 08:00:00 | 只看該作者 |只看大圖 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
引言
$ X' a( |  A9 I" t' r人工智能(AI)正在深刻改變半導體行業(yè),特別是在芯片設(shè)計過程中。本文探討AI如何重塑芯片設(shè)計的各個方面,包括分析、優(yōu)化和設(shè)計輔助,幫助逍遙設(shè)計自動化的讀者了解不同的AI技術(shù)及其在提高設(shè)計性能和生產(chǎn)力方面的應用[1]。5 O* e" a  t% _. m/ Q8 H
& h: G/ J6 o2 b( j: J
人工智能在芯片設(shè)計中的應用簡介; [( \' J! x- |# G) e
AI正在芯片設(shè)計行業(yè)掀起波瀾,提升設(shè)計過程的多個階段。AI主要影響以下關(guān)鍵領(lǐng)域:
  • 分析:AI實現(xiàn)更快速、預測性和跨階段的芯片設(shè)計分析。
  • 優(yōu)化:AI驅(qū)動的優(yōu)化技術(shù)帶來更快速、更可擴展和更優(yōu)質(zhì)的結(jié)果。
  • 輔助:AI為芯片設(shè)計師提供專業(yè)知識、編碼支持和任務自動化。& h( e* E9 s* z. I2 H
    [/ol]
    . }: ^9 c# t3 n. S. X" X; H( T( g# }) [' R9 j+ c

    2 J% R: a; J- d. S& {# t/ |! {圖1:此圖展示了AI在芯片設(shè)計中影響的主要領(lǐng)域:分析、優(yōu)化和輔助。
    / @; n# J- P6 r
    , p# O6 d. c! p' o- m- \芯片設(shè)計中的AI技術(shù)
    " W2 E7 e' w" b% y! r多種AI技術(shù)被應用于芯片設(shè)計,每種技術(shù)適用于設(shè)計過程的不同方面:
  • 經(jīng)典機器學習(ML):適用于小型結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù),線性回歸、支持向量機和決策樹等技術(shù)用于初步分析。
  • 深度學習:卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(CNN)適合物理設(shè)計數(shù)據(jù),而圖神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(GNN)適合線路網(wǎng)表數(shù)據(jù)。
  • 貝葉斯優(yōu)化:此技術(shù)用于構(gòu)建目標函數(shù)的概率模型,并選擇最有希望的數(shù)據(jù)點進行采樣。
  • 強化學習(RL):RL代理通過與環(huán)境交互并獲得改進獎勵來學習優(yōu)化設(shè)計。
  • 生成式AI:這些模型,包括變分自編碼器(VAE)和Transformer,用于生成最佳設(shè)計點和學習優(yōu)化表示。
  • 大型語言模型(LLM):LLM用途廣泛,可應用于問答、編碼、提取、重寫、分類、總結(jié)和推理等多種任務。
    & c- {7 L) z; i6 ]# I) D[/ol]& A& a! ~8 ?& f: j! _
    & e. }& i1 q. F; M

    * a$ |5 \% d% M) p# X圖2:NVIDIA芯片設(shè)計中使用的不同AI技術(shù),包括經(jīng)典ML、深度學習和各種優(yōu)化方法。6 {$ u% x: Y& p, x4 o) [9 d4 L% ~8 e
    ( z9 Q. |1 E  d: J; D" s9 p# y" N
    AI在芯片設(shè)計中的應用
    . O' h7 d  H+ a4 ]5 y( A& f9 X讓我們探討AI在芯片設(shè)計中的一些具體應用:) v1 y& q5 Q& F. u2 A9 x
    1. IR壓降估算
    3 |- n4 C6 }* IIR壓降估算對物理設(shè)計非常重要,但傳統(tǒng)方法需要數(shù)小時。基于AI的方法可以從單元級特征預測IR壓降,在3秒內(nèi)實現(xiàn)94%的準確率,而商業(yè)工具需要3小時。4 a  R- t' o( e! O
    0 f9 V  u) }, z9 H$ z! F

    - w/ ?5 q# u( B' q/ s1 l6 R6 {, O. \圖3:使用AI進行IR壓降估算的過程,顯示了功率圖和系數(shù)圖。
    ; |' F! d8 B! v- u% m/ t& R( U; J( a
    7 U( Y+ e( M. Q2 H9 r2. 寄生參數(shù)預測8 j+ Y% ~: X1 X/ s* ?  H
    AI用于從原理圖預測布局寄生參數(shù)。通過將原理圖轉(zhuǎn)換為圖形并使用圖神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(GNN),設(shè)計師可以高精度估算寄生參數(shù),將仿真誤差降低到10%以下。
    0 D4 ~3 J# e3 Z0 ]
    % [! d  E/ {1 ~) x9 d" n - |( F4 M" U' M# {/ [* l3 G. h
    圖4:此圖說明了將線路原理圖轉(zhuǎn)換為異構(gòu)圖以進行寄生參數(shù)預測的過程。+ M! {- ?* e, x- L' x. t- y

    ) ~* V1 w& U& s( X. y7 i* v3. 宏單元布局優(yōu)化
    " L+ n3 w" R( T. b0 Y4 @, m宏單元布局對物理設(shè)計非常關(guān)鍵。多目標貝葉斯優(yōu)化被用于改進宏單元布局,考慮線長、擁塞度和密度等因素。+ ]5 z8 e9 V/ H
    0 c: f6 [8 B! _) c! T* Z# G

    - ~% }* f6 U) ]圖4:此圖比較了基準宏單元布局與使用AutoDMP(自動化DREAMPlace基礎(chǔ)宏單元布局)優(yōu)化后的布局。
    - c: \% u* v% c: h3 g' @7 z" ?8 F' q6 |+ \8 N* H! P# i% k
    4. 設(shè)計規(guī)則檢查(DRC)修復7 `/ d  R' S2 }1 z# n
    強化學習代理被訓練用于自動修復單元布局中的設(shè)計規(guī)則檢查(DRC)違規(guī)。代理學習逐步減少DRC錯誤,最終得到干凈的布局。3 x6 h- I+ S4 b/ ^- H0 N; M

    5 i& U0 W( Y2 x2 L6 E 2 A. A' ?! C" r2 C
    圖5:此圖顯示了RL代理在單元布局中修復DRC違規(guī)的逐步過程。( x+ T- X$ X4 p; _
    5 s! I1 ]( ^' T+ S- a2 n2 i
    5. 數(shù)據(jù)通路優(yōu)化
    * r  M* `" N2 J( q強化學習也被應用于優(yōu)化數(shù)據(jù)通路結(jié)構(gòu),如前綴加法器。RL代理探索不同的前綴圖結(jié)構(gòu),以實現(xiàn)比知名加法器架構(gòu)更好的性能。
    / c: r, W2 P% f2 \# P; f( ]5 w# d0 q
    4 P. \; a1 W1 Y: I6 b1 S( { + j! V) `% O) z2 X
    圖6:此圖說明了使用強化學習優(yōu)化前綴加法器結(jié)構(gòu)的過程。
    4 b/ b8 W9 A# f1 A( D3 F, ?8 }
    # ~6 u$ z; P5 w# V, _6. 門尺寸調(diào)整
    * g- U+ K5 c9 H- r8 a( OTransformer被用于生成最佳門尺寸,以進行時序和功耗優(yōu)化。通過將門路徑建模為序列,AI可以生成優(yōu)化的門尺寸,與傳統(tǒng)優(yōu)化方法相比,實現(xiàn)了100倍到1000倍的加速。8 K; M: [8 T" }- Z
    # y( d- F& S" w

    ) s' H1 D7 }0 Y; I/ A圖7:此圖顯示了Transizer方法在門尺寸優(yōu)化中實現(xiàn)的功耗/延遲權(quán)衡。
    8 _; O# j9 q4 N8 w( G5 I
    8 Z* M& m3 G6 b0 B' W) _/ U' D7. 加速器設(shè)計
    0 m$ p- q- k- \5 |7 H: i7 `變分自編碼器(VAE)被用于學習硬件加速器設(shè)計的連續(xù)可重構(gòu)潛在空間。這種方法在探索設(shè)計空間時實現(xiàn)了6.8倍的樣本效率和5%的性能提升。
    ( k3 K# ]3 [# ~5 [1 j7 t: e: y, q5 v

    $ d8 Z$ G9 a( G, K" `% s圖8:此圖展示了在神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)加速器設(shè)計空間優(yōu)化中使用VAE的過程。) X  M3 R( o, g

      G. `; e9 B8 y1 M  e: v大型語言模型在芯片設(shè)計中的應用
    3 o  G- k) E7 C. E' D大型語言模型(LLM)在芯片設(shè)計中越來越重要?梢酝ㄟ^以下技術(shù)適應各種任務:
    9 Z4 e7 _0 T& w0 [% q. [2 y
  • 參數(shù)訓練
  • 檢索增強生成(RAG)
  • 上下文學習
  • 基于代理的方法
    5 g4 ^& N3 \* c! b, E( @

    5 |, @/ J$ O1 `* b) @LLM在芯片設(shè)計中用于多個目的:
  • 編碼輔助:為特定任務生成EDA腳本。
  • 專業(yè)知識輔助:回答關(guān)于設(shè)計、基礎(chǔ)設(shè)施、工具和流程的問題。
  • 分析輔助:總結(jié)錯誤報告并預測任務分配。% |, v% j& ^- d! e9 U. ?
    [/ol]
    ) z% w9 v' E' b# N3 O& U3 T
    % d$ V% E5 r1 w3 w! r3 J; ?# }
    ) R: s4 ?) ]+ y7 L) l3 T  D圖9:此圖顯示了LLM在芯片設(shè)計中的各種應用,包括編碼、專業(yè)知識、分析、優(yōu)化和調(diào)試輔助。
    - T4 Q4 a' p# c0 `- \- h) m# A! ~# [! `
    結(jié)論/ h: m0 T7 H' u0 ~; Z8 Y
    AI正在通過提高分析速度、優(yōu)化質(zhì)量和設(shè)計輔助來革新芯片設(shè)計。隨著該領(lǐng)域的進展,可以期待看到:
  • 持續(xù)使用貝葉斯優(yōu)化和強化學習,以實現(xiàn)芯片設(shè)計中更好的PPA(功耗、性能、面積)。
  • 在優(yōu)化數(shù)據(jù)上訓練的生成式AI模型,加速傳統(tǒng)優(yōu)化過程。
  • LLM模型和代理通過聊天機器人、協(xié)作工具和任務自動化顯著提高芯片設(shè)計生產(chǎn)力。
  • 可靠高效的推理基礎(chǔ)設(shè)施的重要性日益增加。4 N% k2 }; A* g4 U) F3 h/ Z8 v" g
    [/ol]+ U2 x" n9 t' @* K/ g
    為進一步推動該領(lǐng)域發(fā)展,需要更多數(shù)據(jù)集和基準,如VerilogEval、FVEval和LLM4HWDesign。隨著AI的不斷發(fā)展,其在芯片設(shè)計過程中的集成無疑將帶來更高效、更強大和更創(chuàng)新的半導體產(chǎn)品。( z1 i- C. G) I6 s) {: D3 M$ E! Q
    ( u6 I4 ^7 h( s; V3 g& t, o# J9 ^

    " g% U- [! p0 _; }% E1 M參考文獻$ u+ N: ^  I. J  }5 m, D
    [1] H. Ren, "Introduction to AI for Chip Design," presented at Hot Chips, Aug. 25, 2024.
    & ]6 O0 [, B8 v* o6 m$ k# x2 S% L0 u- R' l" X& T
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