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基于MEMS的低頻壓電能量收集器件設(shè)計(jì)

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發(fā)表于 2024-11-29 08:01:00 | 只看該作者 |只看大圖 回帖獎(jiǎng)勵(lì) |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
引言4 q; W. `" e! e* s
能量收集技術(shù)作為小型電子器件的可持續(xù)能源供應(yīng)方案?jìng)涫荜P(guān)注;贛EMS的壓電振動(dòng)能量收集器件(P-VEH)能將環(huán)境中的機(jī)械振動(dòng)轉(zhuǎn)換為可用的電能是有效的解決方案,本文探討了針對(duì)低頻應(yīng)用的懸臂梁型P-VEH器件的設(shè)計(jì)考慮因素和分析方法[1]。
0 i' R8 P6 D0 H
1 I  m# W# ^6 u1 q; u6 U- L% f低頻振動(dòng)源的理解
8 S* }7 ~" Q7 t實(shí)際環(huán)境中的振動(dòng)源通常在低頻范圍內(nèi)運(yùn)行,非常適合能量收集應(yīng)用。常見(jiàn)的振動(dòng)源包括汽車(chē)和發(fā)動(dòng)機(jī)的電機(jī)振動(dòng)(30-300 Hz)、人體振動(dòng)(~400 Hz)和切割機(jī)振動(dòng)(500-2000 Hz)。由于懸臂梁型P-VEH設(shè)計(jì)具有較低的諧振頻率和對(duì)環(huán)境振動(dòng)的高靈敏度,特別適合這些應(yīng)用場(chǎng)景。
+ O" L  s# }! v
2 s. Z5 u/ o( Z6 h$ D/ N3 c壓電層參數(shù)的影響
+ M1 X% g( h# _6 u2 a* x$ QP-VEH器件的性能受壓電層尺寸的顯著影響。下面分析壓電層的長(zhǎng)度和厚度如何影響關(guān)鍵性能指標(biāo)。
- |+ q3 L$ C- O9 s$ |
4 R7 g* T- K: Y圖1顯示壓電層長(zhǎng)度為50 μm時(shí)的位移分析結(jié)果
" v0 z) ]  m! Q# b( K) ^  c/ l4 K3 q1 G7 I1 s
1 s5 E$ r) O+ d6 [) ?3 y
圖2展示壓電層長(zhǎng)度為75 μm時(shí)的位移分布
) t$ r' S6 A# V0 q8 U  e8 x0 `) f# J" d
3 D$ p, w& ]% m2 s7 V* P
5 u0 Z$ d' @3 e$ v圖3呈現(xiàn)壓電層長(zhǎng)度為100 μm時(shí)的位移情況
1 K- S" t! P) ?/ U2 R/ q$ U& U
! H& X0 Y1 \3 p  |, {) p1 Z: o0 m0 k# P ) l2 H7 k2 K& z) g0 [; G
圖4描述壓電層長(zhǎng)度為125 μm時(shí)的位移分析! y5 v4 |. c6 S" q( Z' k. ]" K4 h
& A9 W3 v. q: f8 D/ w+ `% i7 s

9 l, Z) T; r0 w2 O9 l( q圖5表示壓電層長(zhǎng)度為150 μm時(shí)的位移結(jié)果
' q. M  W" c7 I" d- z; E) H, [# ^9 z# ^' f0 n( p

# c% ~/ [5 e8 c& }7 N圖6顯示壓電層長(zhǎng)度為175 μm時(shí)的位移特征
" B) D8 n+ h* h  U' _# O7 r4 H" Q4 a) @' _

/ ^9 F* @% V, c1 x6 X圖7展示壓電層長(zhǎng)度為200 μm時(shí)的位移分布情況+ p8 M$ q: D! q" ?) i

  |' K: A6 ]$ D$ y7 j 8 k: m$ J; p  i
圖8顯示壓電層長(zhǎng)度為50 μm時(shí)的von Mises應(yīng)力分布,固定端顯示最大應(yīng)力集中9 _3 U, v" a& g
# s! c- G- d7 ^* r
; `; M/ K+ {0 n4 e9 p
圖9展示壓電層長(zhǎng)度為75 μm時(shí)的von Mises應(yīng)力分析結(jié)果
6 j* ?$ b: }' e6 @ # \" J9 K  a+ O% ?* g6 K0 z4 s
圖10呈現(xiàn)壓電層長(zhǎng)度為100 μm時(shí)的von Mises應(yīng)力狀態(tài)
& [6 d  Y8 Y) y# P8 r. J& K7 N- v9 X
9 N) D# T, k+ f  ]
圖11描述壓電層長(zhǎng)度為125 μm時(shí)的von Mises應(yīng)力分布$ a. Q- l& X1 [0 D  u2 G/ A

& q4 A: y, Z4 K7 L2 ~
# I- k, ~; S% b% ?4 U  p圖12表示壓電層長(zhǎng)度為150 μm時(shí)的von Mises應(yīng)力情況+ s2 H% T- W# P0 u  V, k' n3 `8 Q! a
' i6 v) C0 z  g$ Y& D& |( E
  r/ K7 M$ |1 I. d: d1 u  y
圖13顯示壓電層長(zhǎng)度為175 μm時(shí)的von Mises應(yīng)力特征
4 U/ `0 V% v9 ~" K1 R1 Y
4 @* ]; ]6 k4 Y ' `! m& q2 F$ }! n  X% D. _: }  [
圖14展示壓電層長(zhǎng)度為200 μm時(shí)的von Mises應(yīng)力分布,顯示應(yīng)力隨長(zhǎng)度增加而增大
* C  B" q6 G/ Q" F) E; c" N
5 u) F" e4 o  }' U1 i/ y, [  a3 P
. K/ C: l, }6 H% G+ N+ I& o圖15顯示壓電層長(zhǎng)度為50 μm時(shí)的電勢(shì)分布,在固定端處出現(xiàn)最大電勢(shì)值
" ~6 Q* e' Q" Q9 d/ F8 Q  g" Z2 e7 p: j5 r: a8 e

( u. [/ S8 H" Y+ o& a& J  f- e圖16展示壓電層長(zhǎng)度為75 μm時(shí)的電勢(shì)分布分析
1 G: ]7 i& |+ k7 o/ k! @; _: {' v$ g6 l8 V; _, b6 ^; o
5 ?* Y. b0 f5 T2 F. L" h
圖17呈現(xiàn)壓電層長(zhǎng)度為100 μm時(shí)的電勢(shì)分布狀態(tài)" m- L9 C- Q) r. r

; n! R5 N+ X; G$ b
+ [, F- }/ H: [' u5 e& p圖18描述壓電層長(zhǎng)度為125 μm時(shí)的電勢(shì)分布特征
1 x8 J/ S' |. U! _$ L1 D1 A0 l0 x7 w( _" a# _1 z# L

' k: Z7 x) x$ o8 {# S圖19表示壓電層長(zhǎng)度為150 μm時(shí)的電勢(shì)分布情況
3 M* c: O( `7 b' H' f, _8 L8 P  k! _; P9 L! o6 G# D

; c8 U& S, l9 m# m- p* u圖20顯示壓電層長(zhǎng)度為175 μm時(shí)的電勢(shì)分布結(jié)果
. R* `+ L$ C0 _: A7 a9 o& i! X
' @+ G1 v, X# K' ]) N: g& r- F* y; E. U) O
圖21展示壓電層長(zhǎng)度為200 μm時(shí)的電勢(shì)分布,清晰表明電勢(shì)從固定端向自由端逐漸降低的趨勢(shì)% a) [) x; h+ j! @8 F% p/ u' I) K

- ]; ?" o  t2 v, T分析揭示了以下重要關(guān)系:4 `5 h* V% c( `4 w/ c6 @& Q
1. 位移特性:0 ]1 o% \+ p# T: X* U
  • 壓電層長(zhǎng)度從50 μm增加到200 μm導(dǎo)致位移增大
  • 較厚的壓電層(5 μm和10 μm)由于剛度增加而減小位移
  • 最大位移出現(xiàn)在懸臂梁自由端
    4 m( T* O" p  [/ P" E6 p' E" R
    4 l' E' e  }" {- e
    2. 應(yīng)力分布:) p8 o' b+ g0 X
  • 最大應(yīng)力出現(xiàn)在懸臂梁固定端
  • 較長(zhǎng)的壓電層產(chǎn)生更高的應(yīng)力值
  • 增加層厚度會(huì)由于位移減小而降低應(yīng)力
    ( h+ l6 ~* e6 s- \8 X$ U8 h

      C" v* i& y0 \( d$ t+ d3. 電勢(shì)產(chǎn)生:& L2 E, g. F8 @, h4 l4 J7 \
  • 電勢(shì)在應(yīng)力集中的固定端最高
  • 較長(zhǎng)的壓電層產(chǎn)生更高的電勢(shì)
  • 較厚的層通常產(chǎn)生更高的電勢(shì),但超過(guò)5 μm后增益減少% {; k* y. F) U- Q, ~1 R! f- {5 s

    0 @% C$ M* ~. t- v懸臂梁參數(shù)的影響
    7 ^( q  }, h* d" t5 ~懸臂梁的尺寸對(duì)器件性能有顯著影響。
    % x# d2 B4 {0 q* @4 ], |8 N0 ]9 X5 r
    圖22顯示懸臂梁長(zhǎng)度為100 μm、梁厚度5 μm時(shí)的位移分布,呈現(xiàn)自由端的最大位移值
    8 O/ N1 G4 i8 w& b+ Z* a6 L& B% V/ N4 ~
    0 F- c3 D$ \) @9 [  r
    圖23展示懸臂梁長(zhǎng)度增加到200 μm時(shí)的位移分布狀態(tài)# R% U' r  A8 j8 A# g+ P

      h, V0 v1 a8 U% E( B. g( T6 `& ~
    , t7 f7 z4 Z5 S6 u; N圖24呈現(xiàn)懸臂梁長(zhǎng)度為300 μm時(shí)的位移分布特征,位移值進(jìn)一步增大  G3 r* d6 X* c5 C( h

      R; E4 R' }& g% d7 g( g* j$ N9 V6 {4 A) f! G
    圖25描述懸臂梁長(zhǎng)度達(dá)到400 μm時(shí)的位移分布情況
    3 h2 O6 l" M4 M
    % H# \, W$ K* s9 S" ^6 K' x1 i% d1 O% d( d: i3 F9 p5 f
    圖26展示懸臂梁長(zhǎng)度為500 μm時(shí)的位移分析結(jié)果,顯示出最大的位移值,驗(yàn)證了位移隨梁長(zhǎng)度增加而增大的趨勢(shì)
    $ U( \3 }/ j5 }2 _4 y: u, N% m& |; a- ^+ D7 e

    , c& C3 x9 C# t+ ?圖27顯示懸臂梁長(zhǎng)度為100 μm、梁厚度5 μm時(shí)的von Mises應(yīng)力分布,在固定端出現(xiàn)應(yīng)力集中; r* k$ e7 ?- z  t. r: I

    + _8 Q6 C: g3 F- B7 C- X  E" w
    0 ^8 m, r# W- o3 C* ^圖28展示懸臂梁長(zhǎng)度為200 μm時(shí)的von Mises應(yīng)力分布,應(yīng)力值相比100 μm有所增加
    9 R4 Y" P3 U! j$ h
    " h% E& A# g6 U9 h. W
    ' y! C; @7 Y! K' g" m, p' v4 s2 b圖29呈現(xiàn)懸臂梁長(zhǎng)度為300 μm時(shí)的von Mises應(yīng)力狀態(tài),顯示更高的應(yīng)力集中; d- p; W  t4 `

    7 j3 {3 P8 L7 C. D/ t
    " T7 v: _6 d; X; W3 O5 }$ v圖30描述懸臂梁長(zhǎng)度為400 μm時(shí)的von Mises應(yīng)力分布,固定端應(yīng)力繼續(xù)增大' U$ P- s- i* x2 m: n+ n7 T

    : v! u& s: l8 z! `, R& A& Q% J- q
    圖31展示懸臂梁長(zhǎng)度為500 μm時(shí)的von Mises應(yīng)力分析結(jié)果,表明當(dāng)梁長(zhǎng)度達(dá)到最大值時(shí),在固定端產(chǎn)生最大的應(yīng)力集中% N2 i1 c9 j- S8 ~
    4 O. i( n  |, H2 s5 p# M; h
    5 A5 P% w! ]: E: c6 x% F# }6 Z: P1 ~
    圖32顯示懸臂梁長(zhǎng)度為100 μm、梁厚度5 μm時(shí)的電勢(shì)分布,在固定端產(chǎn)生較小的電勢(shì)值
    9 X$ l; k. I# a+ E/ c% o: z9 P0 _# A
    / e. I; H6 q2 X) f4 g$ I, a: M3 G: _: x8 m
    圖33展示懸臂梁長(zhǎng)度為200 μm時(shí)的電勢(shì)分布,電勢(shì)值有所增加) }9 A+ v* y: n
    7 s  R% S! x6 @" `* Y' S
    7 S1 {4 N% l/ l; I& X/ @9 m9 m2 L
    圖34呈現(xiàn)懸臂梁長(zhǎng)度為300 μm時(shí)的電勢(shì)分布狀態(tài),顯示更高的電勢(shì)產(chǎn)生- k0 u  D+ l/ o6 L' C! J

    $ s. ?+ u. f3 y+ e7 t1 w& `: ~, a" U+ I) Y6 q
    圖35描述懸臂梁長(zhǎng)度為400 μm時(shí)的電勢(shì)分布,電勢(shì)值進(jìn)一步提高2 n6 g& w2 ^' ~3 x

    * y; }) T8 c9 y" p4 y# b* W/ n8 H& U
    圖36展示懸臂梁長(zhǎng)度為500 μm時(shí)的電勢(shì)分析結(jié)果,表明在最大梁長(zhǎng)度下獲得最高的電勢(shì)輸出,驗(yàn)證了電勢(shì)隨梁長(zhǎng)度增加而增大的特性
    % W0 }! g" k/ u& Z6 S- h
    ; a" y' o" g( x( s1 }  b  P9 K關(guān)于梁參數(shù)的主要發(fā)現(xiàn)包括:$ m8 i) j; L2 z( \- n0 B  @8 o
    1. 長(zhǎng)度效應(yīng):
    ) {! H5 n# P2 l0 U) b
  • 梁長(zhǎng)度從100 μm增加到500 μm顯著提高位移
  • 較長(zhǎng)的梁產(chǎn)生更高的應(yīng)力值和電勢(shì)
  • 器件尺寸隨梁長(zhǎng)度成比例增大
    : i, {6 V/ u/ \# i2 \1 T

    ( K" j! u6 a6 W7 X) G; }2. 厚度影響:
    3 x* ?5 x& {/ L- ?
  • 較厚的梁由于剛度增加而減小位移
  • 應(yīng)力水平隨梁厚度增加而降低
  • 電勢(shì)產(chǎn)生與梁厚度成反比
  • 更高的厚度增加諧振頻率
    , r1 l! x4 |# [4 X3 z

    8 v1 ~1 j1 D0 b* a! C% _7 E- uP-VEH器件的優(yōu)化設(shè)計(jì)需要仔細(xì)考慮這些參數(shù)以獲得期望的性能特征。對(duì)于低頻應(yīng)用,具有適中厚度的較長(zhǎng)梁由于較低的諧振頻率和對(duì)環(huán)境振動(dòng)的較高靈敏度而表現(xiàn)更好。
    . D$ ~1 c. g; L% k* G
    3 ~: V( F1 ~& t! O) J$ }全面的分析為設(shè)計(jì)針對(duì)特定應(yīng)用需求的P-VEH器件提供了有價(jià)值的見(jiàn)解,幾何參數(shù)與性能指標(biāo)之間的相互作用使工程師能夠在保持結(jié)構(gòu)完整性和運(yùn)行穩(wěn)定性的同時(shí),優(yōu)化器件設(shè)計(jì)以獲得最大的能量收集效率。
    6 }/ p  l* p( y# R- P% B5 d
    . k3 T1 b, U# A+ y, N& L參考文獻(xiàn)
    5 q2 O8 W" T: t4 Z1 R[1] S. Saxena, R. Sharma, and B. D. Pant, "Design and Development of MEMS based Guided Beam Type Piezoelectric Energy Harvester," in Energy Systems in Electrical Engineering. Singapore: Springer Nature Singapore Pte Ltd., 2021./ L  t: r' w8 v9 ~% Y
    8 C) I% Y- J  Z1 ~* h
    END
    ! u% O8 E6 A& ]) T, }* e
    ; t/ E: i8 L, Z# o( A. |7 ]% [

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    # m2 w+ d' S6 W; V& U深圳逍遙科技有限公司(Latitude Design Automation Inc.)是一家專(zhuān)注于半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)的高科技軟件公司。我們自主開(kāi)發(fā)特色工藝芯片設(shè)計(jì)和仿真軟件,提供成熟的設(shè)計(jì)解決方案如PIC Studio、MEMS Studio和Meta Studio,分別針對(duì)光電芯片、微機(jī)電系統(tǒng)、超透鏡的設(shè)計(jì)與仿真。我們提供特色工藝的半導(dǎo)體芯片集成電路版圖、IP和PDK工程服務(wù),廣泛服務(wù)于光通訊、光計(jì)算、光量子通信和微納光子器件領(lǐng)域的頭部客戶。逍遙科技與國(guó)內(nèi)外晶圓代工廠及硅光/MEMS中試線合作,推動(dòng)特色工藝半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈發(fā)展,致力于為客戶提供前沿技術(shù)與服務(wù)。& J1 t$ h* A& L- X* w; X! O* E7 L+ t
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