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引言) |& W$ M& {# |, K) y& S
鈮酸鋰薄膜(TFLN)波導因其卓越的電光特性和非線性特性,正成為集成光電子技術中的核心材料。這種波導結構通過提供高折射率對比和強光場限制,為現(xiàn)代光電子技術器件的小型化與高效設計提供了基礎。本文從基本原理、模式分析到導模特性展開,介紹鈮酸鋰薄膜波導的相關研究[1]。: q9 y; J8 h# j; j1 B5 M
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" V/ r* ]9 J& |2 `; q
) T; L: s/ P- [/ I鈮酸鋰薄膜波導簡介/ k9 U6 E4 o3 m( a
鈮酸鋰薄膜或稱鈮酸鋰絕緣體(LNOI)波導由一層薄鈮酸鋰核心層和硅氧化物緩沖層組成。這種結構因折射率對比大,能實現(xiàn)高效光場限制,被廣泛應用于以下領域:
1 y3 a0 v$ ^% g |; }, X光量子技術系統(tǒng)
* W$ H. Y" F/ d! G3 T, r光計算' n2 ]' F) c1 b- l. d& w
單光子態(tài)處理
0 ~- t' R! P( D9 c0 u鈮酸鋰的雙折射和各向異性特性為模式分析帶來了復雜性,通常需要結合解析和數(shù)值方法加以解決。
r7 B- @! u, p/ B
R# [9 r0 v1 B4 h6 U鈮酸鋰薄膜波導的結構配置
7 q) y+ D" s Y6 h9 k9 |根據(jù)晶軸的切割方向,鈮酸鋰薄膜波導可以分為:# Y, O' h* Y* _, o2 b+ h" K0 N
X切片波導:垂直于晶體X軸或Y軸切割。Z切片波導:垂直于晶體Z軸切割。
9 b; U: D" S8 t( K# `& k+ M每種結構的光學特性各異。鈮酸鋰薄膜嵌入波導結構的示意圖見圖1,圖中展示了晶軸方向與坐標系之間的關系。
/ _. x% X9 U" ^: K! O) C
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. Y+ _+ G1 E% h圖1:鈮酸鋰薄膜波導的光傳播方向示意圖:X切片(a)和Z切片(b)結構,標注了不同坐標系。% O2 a3 s c& h1 U+ F8 o. Y
' N! D! i3 D+ q- d8 q鈮酸鋰薄膜波導的模式分析/ v+ B- g i, C
模式分析的核心是通過求解麥克斯韋方程,確定波導的導模特性。關鍵步驟包括:定義波導的幾何結構和材料特性。確定各向異性核心層的介電常數(shù)張量。通過特征值問題求解模式的傳播常數(shù)。4 u( Z' Z+ u! j! x3 d
[/ol]0 E9 d) v! w$ i3 d/ j
典型波導結構及其相關參數(shù)見圖2。: n( q) t: a3 {. |$ Q% J6 ^' ]
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3 A/ p( ^6 C7 K$ q8 n2 _' m圖2:TFLN波導:核心層厚度為dd,位于底部襯底與上層覆蓋層之間。光沿zz方向傳播。) e4 q2 P' q+ r# v v
, y b! M- i0 W# r: ^; b: T+ D
材料特性與光學特征, d! b0 C' G& P" D0 w
鈮酸鋰的光學特性由其普通折射率(non_o)和非常折射率(nen_e)決定,這些參數(shù)隨波長變化。折射率與波長的關系如圖3所示。1 D& O4 y' B. z4 A9 H( y
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v& n' }/ H( H G" a! V p7 l圖3:鈮酸鋰材料(non_o、nen_e)的折射率與波長的關系曲線,包括塊狀和薄膜樣品的數(shù)據(jù)。# B. `( r" G, s+ L3 L) L
, r+ N2 a3 U9 o. t6 Q& ~0 G0 \
X切片與Z切片波導的導模特性
# ?: g1 s) T2 B: S# E. zX切片波導的導模
5 F) u: c5 Q7 V1 |X切片波導支持TE和TM偏振耦合的混合模式;旌铣潭扔蓚鞑ソ嵌群筒▽Ш穸葲Q定。圖4和圖5分別展示了空氣覆蓋層和二氧化硅覆蓋層的色散曲線。
/ P+ v: f L: u, V6 F1 F
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$ O( D8 ? u& L圖4:X切片波導(空氣覆蓋層)的導模:有效折射率與核心厚度的關系,針對不同傳播角度。
: L) E0 [9 F* C
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* F& ?8 f _7 X- G* g- M' T
圖5:X切片波導(二氧化硅覆蓋層)的導模:有效折射率與核心厚度的關系,針對不同傳播角度。
: S3 p4 }, G5 T3 ^9 H. Q& t) h
* [( B1 p. @5 B- L! n# r; MZ切片波導的導模
! s, t& K& ^: Z# H5 y, YZ切片波導展現(xiàn)了獨立的TE和TM模式,沒有混合現(xiàn)象。有效折射率由波導厚度及non_o、nen_e決定。色散曲線見圖13。2 a7 s( Z# @7 [% \
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' I/ Z5 e: E) R9 J# o. |圖6:Z切片波導的導模:有效折射率與核心厚度的關系,分別針對空氣覆蓋層(a)和二氧化硅覆蓋層(b)。
- h4 T' T! |/ j* A& h1 Z% d7 U* P
! h4 C0 D9 I6 w' M% F: x模式偏振特性與混合分析* g9 }% T) D) P& k. D* o
通過偏振比(Π\Pi)可以量化模式的TE與TM分量占比。圖12的色彩圖直觀顯示了X切片波導中強混合模式的分布情況。: f3 i4 w. ~# A8 @
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! {' L0 o. M$ \8 u. J) I; [1 O
圖7:X切片波導中模式的混合程度:不同核心厚度和傳播角度下的混合區(qū)域色彩圖。
3 n! D; P8 S0 @! \
* V* j6 q% M$ s8 m模式剖面與場分布6 Y; ^6 I' q3 D
矢量場剖面提供了電場和磁場的分量信息。圖6-9展示了X切片和Z切片波導的典型模式剖面。
, S8 O3 L0 v# i2 Z
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0 d c: }$ v: w4 g4 L9 p2 f4 X
圖8:空氣覆蓋的X切片波導中導模的電場與磁場分布剖面。1 e$ H: P; }0 H. Q, @
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! I+ c. U& H% u
圖9:二氧化硅覆蓋的X切片波導中導模的電場與磁場分布,幾乎沒有混合現(xiàn)象。6 m- F; S6 e, ^/ O3 }0 q
, M5 N) s8 o; r8 Z! c應用與分析
8 ]* I Y1 O, q, o+ r/ s- _鈮酸鋰薄膜波導在光電子技術線路設計中具有重要作用:/ E% j1 Z, w0 n3 g$ w* E% S
模式特性的深入研究支持更高效的器件設計。8 I9 q& z/ D- j- B8 v
混合模式的特性為光電子系統(tǒng)設計提供了新的功能。$ d$ L; H6 ~, u& B# [6 R4 A! T0 x o6 T
模式分析工具可用于優(yōu)化與驗證設計方案。: [$ ~7 `- B+ S5 ^# S! r, ]
7 ~( |, I2 X9 y* M, R# ]
結論+ }0 }+ F! \) l/ j# k1 A0 X
鈮酸鋰薄膜波導因其獨特的模式特性,在集成光電子技術中具有重要地位。通過對模式行為的深入分析,研究人員和工程師能夠更高效地利用這種材料平臺。本文詳細解析了鈮酸鋰薄膜波導的理論基礎、模式分析方法以及實踐意義。" w9 Q6 `6 j2 a. E' T2 ?7 M
0 {- a' J3 J6 A0 c! _
參考文獻
( `+ I2 ~1 c" c V2 S" A[1] M. Hammer, H. Farheen, and J. F?rstner, "Guided modes of thin-film lithium niobate slabs," Optics Continuum, vol. 3, no. 11, Nov. 2024. [Online]. Available: https://doi.org/10.1364/OPTCON.5328223 Q: b' S* f K: P t- O* }
4 [( O8 ~& T3 vEND/ T6 d( E4 m5 _5 r& D
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