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先進(jìn)半導(dǎo)體封裝的趨勢與技術(shù)

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發(fā)表于 2024-9-13 08:03:00 | 只看該作者 |只看大圖 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
引言$ W* d, p9 z' W! I' k
半導(dǎo)體行業(yè)正在快速發(fā)展,主要由多個應(yīng)用領(lǐng)域?qū)Ω咝阅、更低功耗和小型化的需求?qū)動。先進(jìn)封裝技術(shù)在滿足這些需求方面發(fā)揮著關(guān)鍵作用,通過實現(xiàn)多樣化組件的異構(gòu)集成。本文以參考文獻(xiàn)為基礎(chǔ)概述了先進(jìn)半導(dǎo)體封裝的主要趨勢和技術(shù)[1],非最新的信息,但可以見到技術(shù)的連續(xù)演進(jìn),當(dāng)年的預(yù)測依然正確。" n& L2 Y6 \/ E. [

  \7 |. E3 _8 j& A+ L7 x

- f6 E. x  B# _5 s1 K驅(qū)動因素和應(yīng)用
" ]+ s3 v. z! u$ P推動半導(dǎo)體行業(yè)增長的幾個主要應(yīng)用包括:
7 R3 Q0 i4 D+ g6 m# a* b
  • 移動設(shè)備
  • 高性能計算
  • 自動駕駛汽車
  • 物聯(lián)網(wǎng)(IoT)
  • 大數(shù)據(jù)和云計算
  • 邊緣計算
    1 h; h+ c8 s2 ]

    9 C# c4 V5 J% x+ K% [% P6 @! v& e這些應(yīng)用由人工智能和5G通信等系統(tǒng)技術(shù)驅(qū)動因素推動。為支持這些應(yīng)用,先進(jìn)封裝技術(shù)必須提供:1 r* |( u- B' d( k
  • 更高密度的集成
  • 改善電氣和熱性能
  • 降低成本
  • 加快上市時間
    8 A* D! p8 ]# s& |3 x

    3 E) b5 v! Z) {+ n
    ' l4 z4 B& v: H) I% ]) O + @/ }4 z2 j3 k
    圖1:各種先進(jìn)封裝技術(shù)的性能和密度比較" M' n; B7 B8 g6 O) N8 t

    ! q3 {* Y& f; L; ?主要先進(jìn)封裝技術(shù)6 X% V% n5 j$ _1 R
    1. 扇出型晶圓級封裝(FOWLP)) y' F7 Z- |; D' k' E
    FOWLP通過將芯片嵌入模塑料中并形成重布線層(RDL)來擴(kuò)展傳統(tǒng)的晶圓級封裝,從而扇出連接。這允許在更小的形狀因子中實現(xiàn)更高的I/O密度。
    ) x- T4 ?& |1 H, s0 c4 L/ N8 @1 J9 K/ K+ J* K7 o
    . M( K2 F! F) c/ D
    圖2:采用芯片優(yōu)先、面朝下方法的扇出型晶圓級封裝橫截面: P$ J5 r3 R( {

    3 m8 C$ p. x$ t: e% C8 s2. 使用中介層的2.5D集成! a9 ?8 S; M; N! Q: v  h; `; ]. ^& F
    2.5D集成使用帶有硅通孔(TSV)的硅中介層來連接多個并排的芯片。這實現(xiàn)了高帶寬的芯片間連接。
      v$ F# s6 K! I# r' @7 S, a) d9 T# F9 G) \
    6 Y! m7 k/ F5 r3 m+ s( d% h$ r
    圖3:臺積電的局部硅互連(LSI)技術(shù),用于2.5D集成! d0 [- V& r8 K) @" e1 B; V- I6 Z
    * U; ^! V/ O/ n( T4 N& v
    3. 使用TSV的3D集成
    ; v! a% h: r! m, \) o% T3D集成使用TSV垂直堆疊多個芯片進(jìn)行芯片間連接。這提供了最高的集成密度,但面臨熱管理和良率方面的挑戰(zhàn)。+ U3 p- o( t6 A; h% d

    2 \9 L4 }: M) ?/ u4. Chiplet架構(gòu)
    1 k. m; b6 B, x. L- V8 FChiplet涉及將大型系統(tǒng)級芯片(SoC)設(shè)計分割成更小的芯片,然后使用先進(jìn)封裝進(jìn)行集成。這改善了良率并允許混合使用不同的制程節(jié)點(diǎn)。
    2 ]& n  L2 W  q: ?& b6 g# v1 E" ~7 r' g
    0 U7 |+ z$ p! h. g7 ^ ' _  H' ^, }* w. @( B% i6 Z6 x$ Q
    圖4:AMD和英特爾基于Chiplet的處理器示例
    7 o; Y5 L0 {2 }5 b4 B" M8 V
    0 U- N9 K2 w% O) F5. 混合鍵合9 R* d6 ]/ Y' H2 H. X8 f0 }
    混合鍵合實現(xiàn)了芯片之間在非常精細(xì)間距下直接銅對銅鍵合,無需使用微凸點(diǎn)。這為芯片到芯片的集成提供了最高的互連密度。
    4 p7 G. e( w1 n  C8 Z + |; m$ u" }3 K9 M
    圖5:微凸點(diǎn)鍵合和混合鍵合方法的比較
    ; U, l* H% q3 |% Y; f& `& N7 M2 b! c
    關(guān)鍵封裝工藝
    . C& X, M  j" o$ y幾種關(guān)鍵工藝技術(shù)促進(jìn)了先進(jìn)封裝:
    2 x3 ?. }# g3 o! d* A  W1. 晶圓凸點(diǎn)制作
    8 s2 f2 i: v, @晶圓凸點(diǎn)制作在芯片切割之前在晶圓上形成互連結(jié)構(gòu)。常見的凸點(diǎn)類型包括:
    8 x- K; }: r8 t% i: U
  • 焊料凸點(diǎn)(C4)
  • 帶焊料帽的銅柱(C2)
    & v! m/ b) h; l+ k
    ) s! f2 C% o) P

    9 K' J$ n* w3 j2 u! ~% q) G" k; t8 R圖6:C4和C2晶圓凸點(diǎn)制作的工藝流程% z4 r1 ?4 n; L& C' S

    7 |8 K* G! y( y+ P" e) {; V- D/ @7 W2. 芯片貼裝和互連  e; _  n$ |, A2 ~
    將芯片連接到基板或其他芯片的方法包括:
    2 o: S- U( G( Q  b
  • 焊料凸點(diǎn)的回流
  • 熱壓鍵合(TCB)
  • 混合鍵合, a2 t- X% D+ F- u# b" `: f& S
    " k- ^" I/ R6 J! b0 n% e( h3 I6 l
    3. 底填7 E) n) w" t) l* e
    底填材料被注入以填充芯片和基板之間的間隙,保護(hù)互連。
    7 [4 w3 e4 S+ _5 ~% L& c4 ]- c: o/ O- {% a$ v: ~
    4. 重布線層(RDL)形成1 `7 f7 ]2 M5 S, p: W
    RDL在芯片表面重新布線連接。主要RDL工藝包括:
    / {- p5 D! p5 t" q8 D8 ^
  • 光刻
  • 電鍍
  • 蝕刻/ a) g' e9 W" N, r" o" y
    ! q+ Z+ Q6 ]3 w* b7 H! L# m) q) }* y
    5. 模塑
    7 I2 y3 e; t5 Q! N8 N* R) D模塑料封裝芯片和互連以提供保護(hù)。方法包括:7 y8 x! }5 A; O' \0 @2 P
  • 傳遞模塑
  • 壓縮模塑; {" Y) r! v6 t' M8 Q

    # ?5 M! ^2 T: \; ~( ?8 ?- P& e先進(jìn)封裝趨勢( b3 Q0 Z$ N3 n! I
    1. 更精細(xì)的互連間距
    ' O9 q/ h- R- Y% A/ A& F互連間距持續(xù)縮小以實現(xiàn)更高密度的集成:
    % b3 r5 e/ Y* H翻轉(zhuǎn)芯片凸點(diǎn)間距:最小50μm
    . J' D* m' R6 F* I) P* Q( j微凸點(diǎn)間距:最小20μm6 ]! T/ m/ {0 U3 Z/ b
    混合鍵合間距:
    . r& A& [7 k( V/ j* G+ F& g. {. Q' \

    1 S/ x* K" y2 u. `2. 面板級封裝5 P3 c3 \8 q2 X+ L% u: O
    從晶圓級到面板級處理的轉(zhuǎn)變實現(xiàn)了更大的制造規(guī)模和更低的成本。
    ( G4 L' p# _2 e1 J. U2 p3 l+ ?5 h- n$ R9 |5 }4 m
    3. 先進(jìn)基板
    ! M$ S6 _- i/ E/ ?7 K3 m3 g具有精細(xì)線/空間和嵌入式元件的有機(jī)基板正在實現(xiàn)更高密度的封裝。
    : p; o' D$ S9 p" z( Y9 _5 c5 d& X; t2 `, `
    4. Chiplet集成
    9 Z$ c8 e1 i% f/ p2 ?作為單片SoC的替代方案,Chiplet的異構(gòu)集成正在增長。
    5 i2 o, v" ^. g; t. S- M$ {; s7 e/ Z+ W. }- F
    5. 光電共封裝 (Co-Packaged Optics)5 b& B& }# U" G5 [2 R0 K
    在封裝中集成光學(xué)元件正在實現(xiàn)更高帶寬的互連。! z4 `4 `* f* n% E" X8 I

    . i: K" ?! X. q% I/ s! s6. 先進(jìn)熱管理) m4 N; x( ^2 z8 h) S
    正在開發(fā)微流體等新型冷卻解決方案來解決熱挑戰(zhàn)。* Q, v; u5 Z! h/ C% N

    7 h& k+ }1 ]0 }+ r/ g' v

    # h# ?; g  ?# {; p- R可靠性考慮, o  g" L0 j3 S* z' g
    隨著封裝變得更加復(fù)雜,確?煽啃宰兊弥匾。主要可靠性問題包括:  D; @& ~% q1 P! m  X
  • 互連的熱循環(huán)疲勞
  • 跌落沖擊抵抗
  • 濕敏性
  • 電遷移
  • 應(yīng)力引起的翹曲& k, @: ~3 H' g, x- B* A

    . S5 w  q0 x5 S2 j需要先進(jìn)的建模和測試方法來預(yù)測和改善封裝可靠性。. v# p5 m" D  @& i# {5 K0 i1 k
    9 R2 f$ p6 m- b. [2 _2 `: f9 d
    7 o  Z2 a1 Z0 `# N6 y
    圖7:與單片設(shè)計相比,Chiplet方法對芯片良率的影響
    # j* T. o8 H* r7 r( ?! k
    , {$ t, X7 b1 u材料開發(fā)
    ! A" k# q; |8 ?* H7 M' r0 p$ j5 _新材料對實現(xiàn)先進(jìn)封裝很重要,包括:: \5 s1 D" d( e% p% m$ e
  • 用于高頻應(yīng)用的低損耗介電材料
  • 低熱膨脹系數(shù)模塑料
  • 精細(xì)間距底填材料
  • 低溫焊料
  • 用于RDL的光敏介電材料" n) L( {9 J, ]( k6 l- S. d1 g% o. X

    ( _$ U/ Q' M$ {' u# m. j  h" V. h) U8 A4 K" Q
      g6 [: `) }1 l6 h* e* L* ~7 {7 z
    圖8:封裝材料介電損耗(Df)的路線圖
    # k; ^, ~: f# y7 x* U/ ^0 y$ X1 w
    - r9 Z3 p- z7 Z5 t2 P 1 A6 U: @. |  I" A2 L0 A
    圖9:封裝材料介電常數(shù)(Dk)的路線圖, `6 O7 }1 D; D2 T: g) H

    3 H! v. y) ^' b, f0 j* _; G未來展望0 m+ }$ f) {- T: I
    先進(jìn)封裝將繼續(xù)在推動半導(dǎo)體創(chuàng)新方面發(fā)揮關(guān)鍵作用。需要關(guān)注的關(guān)鍵領(lǐng)域包括:
    9 s) \3 V  x9 {! }) p% V
  • 晶圓級、面板級和PCB技術(shù)的融合
  • Chiplet和芯片分解的增加采用
  • 超越焊料和銅的新型互連技術(shù)
  • 芯片和封裝的協(xié)同設(shè)計
  • 石墨烯等新材料的集成
  • 嵌入式冷卻解決方案
  • 用于封裝設(shè)計和優(yōu)化的人工智能
    , p% S7 q! s  \1 g; \& F
    * Q  J) t* p, T6 V9 B/ L
    隨著封裝變得更加復(fù)雜并對整體系統(tǒng)性能更加重要,芯片設(shè)計師、封裝設(shè)計師和材料供應(yīng)商之間的更密切合作將變得不可或缺。) e+ S2 n, ~. B7 _2 Z
    ' T' @  E3 R( E+ K( V
    : A0 A+ o# u4 J' ]* ~
    結(jié)論) p& H. b8 F7 j& C, h& T6 ~9 n
    先進(jìn)封裝正在快速發(fā)展以滿足下一代電子系統(tǒng)的需求。扇出型封裝、2.5D和3D集成以及Chiplet等技術(shù)正在實現(xiàn)前所未有的異構(gòu)集成水平。在材料、工藝和架構(gòu)方面持續(xù)創(chuàng)新對于克服挑戰(zhàn)和實現(xiàn)先進(jìn)封裝在未來應(yīng)用中的全部潛力將非常重要。( a3 }$ N; @9 `  k2 c4 [- C
    - R) R* W: h+ d5 L( d

    ( o6 c% T. w6 c+ l1 w參考文獻(xiàn)/ {- k) F1 \/ x$ C
    J. H. Lau, "Semiconductor Advanced Packaging," Singapore: Springer Nature Singapore Pte Ltd., 2021.
    + t* j! M- ~# i1 {9 ~- B. f6 J3 u# w# W6 Q3 A
    9 i1 P1 `' \8 T* U

    ! {! g. ~% r8 x* w4 p* K5 q- END -
    4 T/ J. u! d" J+ g- X
    / T7 |& N/ @4 B. T- S1 ~軟件申請我們歡迎化合物/硅基光電子芯片的研究人員和工程師申請體驗免費(fèi)版PIC Studio軟件。無論是研究還是商業(yè)應(yīng)用,PIC Studio都可提升您的工作效能。! d+ {+ [, D7 w! @0 }/ s; q! O
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    ' i* g' F" Z4 \歡迎轉(zhuǎn)載
    5 i, \7 v# J9 M
    6 B* P, ^' t$ \% R$ C轉(zhuǎn)載請注明出處,請勿修改內(nèi)容和刪除作者信息!% m$ o% e/ n; I2 H, C

    ( ~3 y  u/ v* e: W% e, V- ?1 L5 o& s5 F+ _/ K& @# v
    ! K7 Z: S) j6 K
    ) m- H3 T5 Q5 ~4 `* ]  R. F
    # c, ]* c# `$ v+ z' H
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    9 N4 {, H, u0 P) i/ |, V
    : y( }% i+ B$ w+ o. t5 w, w3 A

    ' i' A+ C* `; o5 Q# E% M8 ?: I0 s  y& f4 z5 N

    2 G. z/ a" e& ^! V4 @! w. p5 G6 t4 H/ k4 }# d( c
    4 H: `4 U. ^! K
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    深圳逍遙科技有限公司(Latitude Design Automation Inc.)是一家專注于半導(dǎo)體芯片設(shè)計自動化(EDA)的高科技軟件公司。我們自主開發(fā)特色工藝芯片設(shè)計和仿真軟件,提供成熟的設(shè)計解決方案如PIC Studio、MEMS Studio和Meta Studio,分別針對光電芯片、微機(jī)電系統(tǒng)、超透鏡的設(shè)計與仿真。我們提供特色工藝的半導(dǎo)體芯片集成電路版圖、IP和PDK工程服務(wù),廣泛服務(wù)于光通訊、光計算、光量子通信和微納光子器件領(lǐng)域的頭部客戶。逍遙科技與國內(nèi)外晶圓代工廠及硅光/MEMS中試線合作,推動特色工藝半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈發(fā)展,致力于為客戶提供前沿技術(shù)與服務(wù)。
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