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測溫升的目的是為驗(yàn)證電子產(chǎn)品的使用壽命、穩(wěn)定性等特性,通常會測試其重要元件(IC芯片等)的溫升,將被測設(shè)備置于高于其額定工作溫度(T=25℃)的某一特定溫度(如恒溫40℃)下運(yùn)行,穩(wěn)定后記錄其元件高于環(huán)境溫度的溫升,以此評估此產(chǎn)品的設(shè)計(jì)是否合理。
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溫升的測試方法:目前溫升測試儀器主要分兩類,非接觸式(紅外熱像儀)和接觸式(熱電偶),目前大部分都是使用后者。
- r5 T) `8 a9 W非接觸式(紅外熱像儀)也可分為兩種,點(diǎn)溫儀(單點(diǎn)式)和熱成像儀,兩者工作原理相同:通過檢測紅外輻射,然后將其轉(zhuǎn)化為溫度讀數(shù)。點(diǎn)溫儀是只有一個(gè)像素點(diǎn)的紅外熱像儀,只能測試單個(gè)點(diǎn)的溫度,測試人員會錯(cuò)失很多關(guān)鍵信息,局限性大。熱像儀不僅能測試成千上萬個(gè)點(diǎn)的溫度,且能將溫度讀數(shù)轉(zhuǎn)化為熱圖像,生成的熱圖像可全面反映待檢設(shè)備的整體狀況,測試人員可發(fā)現(xiàn)不易發(fā)現(xiàn)的熱點(diǎn)。" F" ]. \( X3 u# {3 C) ]$ n# B
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接觸式(熱電偶、熱電阻)測試儀在整機(jī)行業(yè)內(nèi)運(yùn)用比較廣泛。
( C& O* g- Y% d/ u' D; X熱電偶作為測量溫度的傳感器,通常和顯示儀表、記錄儀表和電子調(diào)節(jié)器配套使用,它可以直接測量各種生產(chǎn)過程中0~1800℃范圍的液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面的溫度。熱電阻的測溫原理是基于導(dǎo)體或半導(dǎo)體的電阻值隨著溫度的變化而變化的特性,其優(yōu)點(diǎn)也很多,也可以遠(yuǎn)傳電信號,靈敏度高,穩(wěn)定性強(qiáng),互換性以及準(zhǔn)確性都比較好,但是需要電源激勵(lì),不能夠瞬時(shí)測量溫度的變化。
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